[发明专利]介质表面氡析出率直接测量仪

说明书

本发明属核辐射探测领域，具体涉及一种介质表面氡析出率测量仪。

对介质表面氡析出率进行测量，弄清氡的来源及其变化规律，为选择有效的防护措施，对正确选择建筑材料有着重要意义。与此同时，开展上述工作，现有技术通常都是用一个单层的氡气积累箱扣在被测表面上来积累氡，用闪烁室或电离室从上面留有取气口的积累箱中取出氡气，然后用定标器或静电计这种常规的测氡装置进行测量。氡气取出以一定时间间隔进行，这种测量方式属间接测量，给出结果时间长。现有方法，由于取气会破坏积累箱内的平衡，会给测量工作带来严重的误差。上述方法，取气次数越多，误差也就越大。除此之外，还由于氡气积累箱为单层，同外界有泄漏和交换，加之有密封方面的问题，也会给测量结果带来影响。基于上述诸多因素，不仅给工作带来不便，尤其是不能保证氡析出率测量结果的准确度。

本发明的目的在于，克服现有技术中因单层积累箱与外界泄漏和交换，使测量结果不准确的缺陷和由于多次取气造成积累箱中氡气平衡的破坏，给测量结果带来的误差，设计了本介质表面直接快速氡析出率测量仪。

本发明的思路是：利用氡在放出一个α粒子的同时，其剩余核受到反冲和电离，生成的新粒子瞬间带正电荷，在将它置于电场情况下，会收集在电极上这个特性，设计了本发明，其具体技术方案是：由两层套装在氡气积累箱和探测器、前置放大器，甄别成型电路构成测氡析出率的探头，由接口电路、计算机、打印机和高压电源组成测量装置。图1为其方框图，需要特别指出的是，探头中氡气积累箱为两个圆柱形筒同轴安装，上部用一平板盖住并密封，下部开口，并有密封橡皮圈，形成内、外两个室，内室为测量室，外室为屏蔽室，同时积累氡。由于内外两室容积相同，所以内、外室积累的氡量也相同。故内室的交换与泄漏不是与外界而是与屏蔽室，这样影响就小多了，对测量室就起到了保护作用，减小了因泄漏和交换给测量结果带来的误差。由于是直接测量减小了因取气带来的误差，从而保证了测量结果的准确程度。

由于是用计算机处理数据，就更方便可靠。图2为探头结构剖面图。本发明的优点在于：由于本发明的探头析出氡积累箱采用双层套装结构，克服了单层积累箱的缺陷，更由于不取气直接进行测量减小了误差，保证和提高了测量的准确度，因而本析出率仪不仅用于测量建材、土壤、房屋墙壁、地面等表面氡析出率，还可以对地下工程，矿井及旅游山洞等表面的氡析出率进行测量，以此来结算氡浓度，为采取通风换气措施提供依据，在环境监测和环境保护，造福于人类方面发挥积极作用。

本发明实施例：

该发明的探头析出氡积累箱采用同轴安装圆柱形双层筒，构成两个圆柱形室，其容积分别为5升，圆柱形筒及上盖板材料用有机玻璃绝缘材料，内筒内实有铜材料圆柱形电极，铜网电极在内筒下面，测量室半径设计为100mm。

图1为介质表面氡析出率测量仪方框图，虚线框围A为探头，虚线框B为测量装置，探头由积累箱和探测器1、前置放大器2和甄别成型电路3构成;测量装置由接口电路4、计算机5、打印机6和高压电源7组成。

图2为探头结构剖面图。

图中，1为积累箱上盖板、2为积累箱屏蔽室、3为测量室、4为圆筒铜电极、5为屏蔽盒盖、6为探测器盒底、7为铜屏蔽盒、8为测量室座、9为铜网电极、10为压环、11为垫圈、12为前置放大器外屏蔽盒、13为前置放大器内屏蔽盒、14和17为螺钉、15为屏蔽盒内盖、16为屏蔽盒外盖、18和19均为密封圈。