[其他]在自动分析装置上进行的光学测定法及其装置无效

专利信息
申请号: 88100938 申请日: 1988-02-15
公开(公告)号: CN88100938A 公开(公告)日: 1988-09-14
发明(设计)人: 若竹孝一;藤岡秀彦 申请(专利权)人: 尼垣库株式会社
主分类号: G01N21/25 分类号: G01N21/25
代理公司: 上海专利事务所 代理人: 王丽川
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 自动 分析 装置 进行 光学 测定法 及其
【权利要求书】:

1、一种在自动分析装置上进行的光学测定法,其特征在于,使所需数目的反应管的反应管支撑架转动,在光学测定位置上对上述各反应管内样品和试剂的化学反应状态进行光学测定,在具有这种结构的自动分析装置的光学测定法中,用通过转动机构往复转动控制的光栅,使上述测定光变成对应于测定项目的单一波长光,用该单一波长光对空气层和反应液的光透射率进行光学测定。

2、在权利要求1中所述的自动分析装置上进行的光学测定法,其特征在于,对上述反应液的测定值的光源亮度的补偿及反应管之间光透射率偏差的补偿是以光学测定位置之前用上述单一波长光测定的空气层光透射率和装入有净水的同一反应管光透射率为基准而进行的。

3、在权利要求1或2中所述的自动分析装置上进行的光学测定法,其特征在于,把上述测定波长分成几组,用按各波长组配设的放大器来放大输入给光电流电压变换装置的测定光,并放大输入给多路调制器。

4、一种在自动分析装置中的光学测定装置,其特征在于,自动分析装置有以下几部分构成,即固定所需数目的反应管的反应管支撑架、使这个反应管支撑架转动的转动机构、通过转动使该反应管支撑架经过光学测定位置测定反应管吸光度的光学测定装置,在该自动分析装置的光学测定装置上,通过由转动机构进行往复转动控制的光栅,在用上述光学测定装置的测定光照射反应管之前选择对应于测定项目的单一波长光,用这个选择的单一波长光照射空气层和反应管,比较该空气层和反应液的光透射率,以便进行比色光学测定。

5、在如权利要求4所述的自动分析装置中的光学测定装置,其特征在于,对前述反应液的测定值的光源亮度的补偿及反应管间光透射率偏差的补偿,是以光学测定位置之前用上述的单一波长光所测定的空气层光透射率以及装有净水的同一反应管光透射率为基准而进行的。

6、在权利要求4或5所述的自动分析装置中的光学测定装置,其特征在于,把上述测定波长分成几组,通过按各波长组配设的放大器来放大输入给光电流电压变换装置的测定光并输入给多路调制器。

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