[其他]镜面平整度测试仪无效

专利信息
申请号: 87210130 申请日: 1987-07-10
公开(公告)号: CN87210130U 公开(公告)日: 1988-06-15
发明(设计)人: 袁玉麟 申请(专利权)人: 浙江大学
主分类号: G01B11/30 分类号: G01B11/30
代理公司: 浙江大学专利代理事务所 代理人: 张法高
地址: 浙江省杭*** 国省代码: 浙江;33
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 平整 测试仪
【权利要求书】:

1、一种测量物体表面轮廓高差的莫尔轮廓测量装置,其特征在于它具有面光源、带有间隙基准的光栅[5]、测量台[4]及成象系统。

2、根据权利要求1所述的一种测量物体表面轮廓高差的莫尔轮廓测量装置,其特征在于所说的面光源是普通的光源〔1〕和透射的乳白色(或有色)玻璃〔3〕;或是普通光源〔11〕及漫反射表面〔2〕。

3、根据权利要求1所述的一种测量物体表面轮廓高差的莫尔轮廓测量装置,其特征在于所说的带有间隙基准的光栅〔5〕,在其光栅栅线的待测区域外缘,无光栅栅线的一侧面涂上一层反射膜;或在光栅栅线的一侧面粘上一层等厚的玻璃,然后在此玻璃的待测区域外缘涂上一层反射薄膜;或在光栅栅线的待测区域粘上三块等厚的支承小块。

4、根据权利要求1所述的一种测量物体表面轮廓高差的莫尔轮廓测量装置,其特征在于所说的测量台〔4〕上,在光栅栅线面的待测区域外端安置三个可微调并能锁紧的支承凸缘。

5、根据权利要求1所述的一种测量物体表面轮廓高差的莫尔轮廓测量装置,其特征在于所说的成象系统,在其目镜分划板〔7〕上刻有作为测量基准的一簇平行线;或在光路中安置的分划板上刻有一簇作为测量基准的平行线。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于浙江大学,未经浙江大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/87210130/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top