[发明专利]辐射温度传感器用的硅探测器筛选方法

权利要求书

1、一种使非平衡式部分辐射温度传感器分度特性一致的方法，其特征是按照对非平衡部分辐射温度传感器一致性的指标要求，对硅探测器进行预先筛选，以便在一个温度点上对装有经筛选合格的硅探测器的传感器进行统调代替逐点温度比较的方法，使非平衡式部分辐射温度传感器的分度特性一致，筛选硅探测器的方法：

a.以下式作为辐射温度传感器的误差表达式：ΔT=±n%T，式中ΔT为辐射温度传感器的一致性的允许误差，T为被测黑体温度，以开尔文温标计，n%为误差的百分数；

b.按下式求得辐射温度传感器在测温量程上限信号确定以后下限输出信号的允许变化范围：

△ VV = ± C 2λ e ( T ) · T △ T· T]]>

作为筛选硅探测器的依据，式中V为被测黑体温度为T时辐射温度传感器的输出值，ΔV为被测黑体温度变化ΔT时辐射温度传感器的输出变化值，λ_e(T)为辐射温度传感器的综合有效波长；C₂为第二辐射常数；

c.在确定硅探测器的最大负载以后，进行硅探测器的筛选，将待筛选的硅探测器置于装有滤光片的辐射温度传感器模拟装置[12]中，使辐射温度传感器瞄准温度为该传感器测温量程上限的钨带灯[11]，在等效负载[13]上取分压，使传感器的输出等于规定值，然后，将钨带灯[11]的温度降低至辐射温度传感器测温量程的下限用测试仪器(7)测得传感器的输出值，对照该辐射温度传感器的分度表，若传感器的下限输出值在允许变化范围以内，则该只硅探测器合格，否则不合格；筛选硅探测器的另一种方法是用两台温度分别为辐射温度传感器测温量程上限和下限的黑体炉代替上述方法中的钨带灯；

d.统调，将装有经筛选合格的硅探测器的辐射温度传感器瞄准温度为传感器测温量程中点的黑体炉靶面，在等效负载上取分压，使辐射温度传感器的输出等于其分度表上的规定值，统调完毕。