[发明专利]光栅光源和疵点检测装置

说明书

本发明公开一种光栅光源和疵点检测装置，其中，光栅光源包括光栅片和光源组件，光栅片具有背对设置的入射面和出射面，入射面设有若干用于使光线透过的透光区；光源组件朝向入射面设置，光源组件发出的光线在若干透光区形成线光源，线光源透过透光区从出射面射出，用于照射位于出射面背离光源组件一侧的透明工件。本发明技术方案旨在提高光栅光源对透明工件中透光强度较弱的疵点检测的准确性。

技术领域

本发明涉及疵点检测的技术领域，特别涉及一种光栅光源和疵点检测装置。

背景技术

透明工件(含半透明工件，如薄膜、玻璃、玻璃管、亚克力板、镜片、平板玻璃等)在生产过程中若产生疵点，会影响其产品的质量，疵点包括鱼眼、条纹、划痕、损点、裂缝、气泡、杂质、污点以及边界等。

透明工件的疵点可使用光栅光源透射法进行检测，光栅光源由灯板、扩散板以及光栅片组成，从灯板发出的光线经扩散板匀光后，透射光栅片，使光栅光源的发光面呈现为一组亮暗相间的图形，光栅光源的发光面为标准的朗伯体，其配光特性接近球形，配光特性可反映光源在空间各个方面的光强分布，而配光特性为球形的光源，其发光面各个方向的光强近似相同。将透明工件朝向光栅光源的发光面设置，并从透明工件远离光栅光源的一侧逆光方向观察，利用亮暗相间的边界可使光场突变而使透明工件的疵点特征显现。

但这种透明工件的疵点检测方法，只有在有穿透力的光照下才能逆光显现出疵点，当透明工件上的疵点透光强度较弱时，此种疵点检测方法的漏检率会很高。因为在检测透明工件的过程中，光线通过疵点时会产生光的散射效应，使得光线通过疵点后能量被消耗，降低了透过疵点的光线强度。与此同时，光线在透明工件里会有扩散作用，在光线进入透明工件后还会产生漫透射，漫透射产生的光线相对于透过疵点的光线在观测端会形成一个有杂光的背景。当被检疵点的透光强度较弱或与杂光背景的光强相近时，透过疵点的光线就会被杂光背景淹没，从而无法在观测端检出透明工件的疵点，导致漏检，无法满足检测要求。

发明内容

本发明的主要目的是提供一种光栅光源，提高光栅光源对透明工件中透光强度较弱的疵点检测的准确性。

为实现上述目的，本发明提出一种光栅光源，包括：

光栅片，所述光栅片具有背对设置的入射面和出射面，所述入射面设有若干用于使光线透过的透光区；

光源组件，所述光源组件朝向所述入射面设置，所述光源组件发出的光线在若干所述透光区形成线光源，所述线光源透过所述透光区从所述出射面射出，用于照射位于所述出射面背离所述光源组件一侧的透明工件。

在本发明的一实施例中，所述光源组件包括：

发光结构，所述发光结构位于所述入射面的一侧，所述发光结构的出光面朝向所述入射面设置；

光束整形结构，所述光束整形结构位于所述发光结构和所述透光区之间，用于整形所述发光结构发出的光线，以使其在所述透光区形成所述线光源。

在本发明的一实施例中，所述光栅片还包括若干遮光区，所述遮光区与所述透光区在第一方向上交替排布，且所述遮光区与所述透光区均沿第二方向延伸，所述第一方向垂直于所述第二方向。

在本发明的一实施例中，所述发光结构包括：

基板，所述基板与所述光栅片相对设置；

若干发光组件，所述发光组件设于所述基板面向所述光栅片的一侧，并沿所述第二方向延伸，所述发光组件的出光面朝向所述透光区设置；

所述光束整形结构包括若干光束整形件，所述光束整形件沿所述第二方向延伸设置，若干所述光束整形件沿所述第一方向间隔设置，所述光束整形件用于整形所述发光组件发出的光线并使其在所述透光区形成所述线光源。

在本发明的一实施例中，所述光束整形件为棒状镜，并具有背对设置的两个端面，所述光束整形件的外周面设有入射区和出射区，所述入射区朝向所述发光组件设置，所述出射区朝向所述透光区设置。