[发明专利]信号同步检测方法、装置、电子设备及存储介质

说明书

本发明公开了一种信号同步检测方法、装置、电子设备及存储介质，本发明涉及信号检测技术领域。其中，信号同步检测方法包括：先利用预设的同步判断条件、运算得到的同步参数数据，初步判断待检测信号是否同步。若初步判断待检测信号同步，则根据预设的校验判断条件、上述同步参数数据判断是否需要进行同步校验。若需要进行同步校验，则对初步待检测信号进行频偏补偿，以此得到目标待检测信号，并根据目标待检测信号得到目标响应值。将目标响应值与预设的校验参考范围进行比较，再次确定待检测信号是否同步。本实施例的信号同步检测方法通过初步同步检测以及对初步同步检测的结果进行校验，提高了同步检测的准确度。

技术领域

本发明涉及信号检测技术领域，尤其是涉及一种信号同步检测方法、装置、电子设备及存储介质。

背景技术

相关技术中，同步信号的同步检测方式包括基于互相关的定时同步检测、时频域联合检测。其中，基于互相关的定时同步检测方式因受多径运算、频偏的影响较大，在衰落信道、大频偏条件下的检测性能较差。时频域联合检测方式适用于较大频偏的条件下，在应用于中小频偏时检测性能显著下降。因此，如何提供一种信号同步检测方法，以减小多径运算、频偏等因素对检测性能产生的影响，成了亟待解决的技术问题。

发明内容

本发明旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一。为此，本发明提出一种信号同步检测方法，能够减小多径运算、频偏等因素对同步检测性能产生的影响，提高同步检测的准确度。

本发明还提出一种信号同步检测装置、一种应用上述信号同步检测方法的电子设备以及一种应用上述信号同步检测方法的计算机可读存储介质。

根据本发明的第一方面实施例的信号同步检测方法，包括：

根据预设的采样频率获取初步待检测信号；

对所述初步待检测信号进行同步参数运算，得到同步参数数据；

根据所述同步参数数据、预设的同步判断条件进行同步检测，得到初步检测结果；

若所述初步检测结果表示信号同步成功，根据所述同步参数数据、预设的校验判断条件进行校验判断，得到校验判断结果；

若所述校验判断结果表示需要进行同步校验，对所述初步待检测信号进行频偏补偿操作，得到目标待检测信号；

根据所述目标待检测信号进行信道估计操作，得到目标响应值；

根据所述目标响应值、预设的校验参考范围得到所述初步待检测信号的同步状态信息；其中，所述同步状态信息包括：信号同步成功或信号同步失败。

根据本发明实施例的信号同步检测方法，至少具有如下有益效果：先利用预设的同步判断条件、运算得到的同步参数数据，初步判断待检测信号是否同步。若初步判断待检测信号同步，则根据预设的校验判断条件、上述同步参数数据判断是否需要进行同步校验。若需要进行同步校验，则对初步待检测信号进行频偏补偿，以此得到目标待检测信号，并根据目标待检测信号得到目标响应值。最后，将目标响应值与预设的校验参考范围进行比较，再次确定初步待检测信号是否同步。本实施例的信号同步检测方法通过初步同步检测以及对初步同步检测的结果进行校验，减小了多径运算、频偏等因素对同步检测性能产生的影响，从而提高了同步检测的准确度。

根据本发明的一些实施例，所述同步参数数据包括：初始相关模方值、初始信号能量值、动态阈值；所述对所述初步待检测信号进行同步参数运算，得到同步参数数据，包括：

对所述初步待检测信号进行采样顺序标记，得到初始采样标记；

根据预设的参考序列数据对所述初步待检测信号进行滑动互相关运算，得到所述初始相关模方值；

根据所述初始采样标记、所述参考序列数据的序列长度对所述初步待检测信号进行信号能量计算，得到所述初始信号能量值；