[发明专利]处理稀疏数据的方法、装置、计算机设备和存储介质

权利要求书

1.一种处理稀疏数据的方法，包括：

获取待处理的稀疏数据，其中，所述待处理的稀疏数据以第一特征图来表示；

确定所述第一特征图中的至少一个全零块和至少一个非全零块，其中，每个全零块仅包括为零的数据，每个非全零块至少包括非零的数据；

确定所述至少一个非全零块中的每个非全零块在所述第一特征图中的第一位置；

分别对所述至少一个非全零块执行卷积或反卷积处理，以得到相应的至少一个经处理的非全零块；

基于所述至少一个非全零块中的每个非全零块在所述第一特征图中的所述第一位置，确定所述至少一个经处理的非全零块中的每个经处理的非全零块在经处理的稀疏数据的第二特征图中的第二位置，其中，所述第一位置相对于所述第一特征图的位置关系与所述第二位置相对于所述第二特征图的位置关系一致；以及

将所述至少一个经处理的非全零块中的每个经处理的非全零块在所述第二特征图中放置于对应的所述第二位置，以确定所述经处理的稀疏数据的所述第二特征图。

2.如权利要求1所述的方法，其中，所述确定所述第一特征图中的至少一个全零块和至少一个非全零块，包括：

利用具有预定尺寸的窗口来划分所述第一特征图以得到所述至少一个全零块和所述至少一个非全零块，其中，每个全零块的尺寸和每个非全零块的尺寸与所述窗口的所述预定尺寸相同。

3.如权利要求1或2所述的方法，其中，所述确定所述至少一个非全零块中的每个非全零块在所述第一特征图中的第一位置，包括：

针对所述至少一个非全零块中的每个非全零块，确定所述非全零块中第一个元素相对于所述第一特征图的第一坐标；以及

基于所述非全零块的尺寸，确定所述非全零块中最后一个元素相对于所述第一特征图的第二坐标。

4.如权利要求1或2所述的方法，其中，所述第一特征图具有第一尺寸，并且所述方法还包括：

基于用于执行所述卷积或反卷积处理的卷积核，确定所述第二特征图的第二尺寸；以及

生成具有所述第二尺寸的全零矩阵。

5.如权利要求4所述的方法，其中，所述分别对所述至少一个非全零块执行卷积或反卷积处理，以得到相应的至少一个经处理的非全零块，包括：

响应于所述第二尺寸与所述第一尺寸不同，针对所述至少一个非全零块中的每个非全零块，确定所述卷积核在所述非全零块上的施加位置。

6.如权利要求4所述的方法，其中，所述将所述至少一个经处理的非全零块中的每个经处理的非全零块在所述第二特征图中放置于对应的所述第二位置，包括：

按照所述第二位置将每个经处理的非全零块放置在所述全零矩阵中，以确定所述第二特征图。

7.如权利要求6所述的方法，其中，所述方法还包括：

生成具有与所述第一尺寸相同的所述第二尺寸的掩码矩阵，其中，在所述掩码矩阵中，与所述第一特征图中的所述非零的数据相对应的元素被置1，

其中，所述按照所述第二位置将每个经处理的非全零块放置在所述全零矩阵中，以确定所述第二特征图，包括：

按照所述第二位置将每个经处理的非全零块放置在所述全零矩阵中，以生成中间处理矩阵；以及

将所述中间处理矩阵与所述掩码矩阵做哈达玛积，以确定所述第二特征图。