[发明专利]一种小型化表面波测试系统

说明书

本发明公开了一种小型化表面波测试系统，其包括微型暗室、发射天线、接收天线、待测材料支架；微型暗室的一个面能打开或设有操作孔；发射天线、接收天线置于微型暗室内，对称设置，且通过天线支架置于待测材料支架上；发射天线、接收天线均包括两个金属片，两个金属片的一端贴合，一端弯曲形成开口；待测材料置于两个开口之间；发射天线通过发射射频电缆与发射射频电缆转接头连接，接收天线通过接收射频电缆与接收射频电缆转接头连接；发射射频电缆转接头和接收射频电缆转接头置于微型暗室上。本发明能提高天线的表面波辐射效率，降低多径散射对测试结果的干扰，提高表面波抑制材料抑制效果的测试精度。

技术领域

本发明属于功能性电磁材料技术领域，具体涉及一种小型化表面波测试系统。

背景技术

电磁材料的表面波测试是测试电磁材料的爬行电磁波的衰减或吸收作用。目前，电磁材料的表面波测试方法包括第一副瓣RCS缩减效果试验(测试材料对非镜面散射抑制RCS效果)和窗口天线间电磁隔离度提升效果试验(测试材料对天线间爬行表面波耦合的抑制效果)。前者仅应用于RCS隐身领域，不仅测试要求极高(需要紧缩场和暗室)，而且无法应用于船舶用电磁材料的表面波测试。后者的测试精度低，存在天线的表面波辐射效率低，以及多径散射信号对测试结果的干扰，无法准确得出电磁材料的爬行电磁波的衰减或吸收作用。

发明内容

本发明的目的在于提供一种小型化表面波测试系统，该测试系统能提高天线的表面波辐射效率，降低多径散射对测试结果的干扰，提高表面波抑制材料抑制效果的测试精度。

本发明所采用的技术方案是：

一种小型化表面波测试系统，其包括微型暗室、射频电缆转接头、发射天线、接收天线、待测材料支架；

所述微型暗室的一个面能打开或设有操作孔；

所述射频电缆转接头有两个，分别为发射射频电缆转接头和接收射频电缆转接头，发射射频电缆转接头和接收射频电缆转接头置于微型暗室上；

所述发射天线、接收天线置于微型暗室内，对称设置，且通过天线支架置于待测材料支架上；所述发射天线、接收天线均包括两个金属片，两个金属片的一端贴合，一端弯曲形成开口；待测材料置于两个开口之间；发射天线通过发射射频电缆与发射射频电缆转接头连接，接收天线通过接收射频电缆与接收射频电缆转接头连接。发射射频电缆、接收射频电缆的工作频率满足发射天线、接收天线的使用要求。

按上述方案，发射天线、接收天线的工作频率相匹配，为2～18GHz，以便提高表面波的辐射效率，提高被测材料测试电磁场的相对强度。

按上述方案，发射天线、接收天线相距的最大距离为1.5米，以减少发射天线、接收天线的谐振和干扰，提高测试效率和精度。

按上述方案，发射天线、接收天线的开口高25±5厘米，发射天线、接收天线的的金属片长20±5厘米，宽25±5厘米，以减少发射天线、接收天线的谐振和干扰，提高测试效率和精度。

按上述方案，待测材料、发射天线、接收天线位于同一中心线上，以便于提高测试精度。

按上述方案，待测材料、发射天线、接收天线、待测材料支架置于微型暗室的正中间位置。

按上述方案，待测材料支架距离微型暗室能打开的面或操作孔的最短距离为0.7～1米，以便于提高测试精度。

按上述方案，所述待测材料支架包括金属板和位于金属板下的非金属支撑。金属板长0.7米，宽1.7米，厚0.2±0.05厘米，非金属支撑高80厘米。待测材料放置于待测材料支架的正中间位置。

按上述方案，所述微型暗室长2米、宽2米、高2米，其包括金属结构和位于金属结构上的吸波材料，所述吸波材料类型任意，厚度小于15厘米，以便于提高测试精度。

本发明的有益效果在于：