[发明专利]一种粒度检测装置有效

专利信息
申请号: 202310510971.X 申请日: 2023-05-09
公开(公告)号: CN116223321B 公开(公告)日: 2023-07-07
发明(设计)人: 柳钟丽;杨涛;赵小虎 申请(专利权)人: 苏州胤煌精密仪器科技有限公司
主分类号: G01N15/02 分类号: G01N15/02;G01N1/38;B65G19/02;F16J15/14
代理公司: 大连优路智权专利代理事务所(普通合伙) 21249 代理人: 陈雪飞
地址: 215000 江苏省苏州市昆*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 粒度 检测 装置
【说明书】:

一种粒度检测装置,属于粒度测试技术领域,为了解决传统的粒度检测装置即粒度分析仪通过先通过水流将粉体样品进行打散,随后通过光照的直射对粉体的直径大小进行分析,而在此过程中,会出现微小颗粒被较大颗粒遮蔽的情况发生,进而影响粒度检测装置即粒度分析仪检测分析效果的问题;本发明通过第二输送组件将第一样品盘和粉体进行输送,在通过第一吸风组件、第二吸风组件和均流孔的设置,制造向上的气流,且升降构件和螺旋杆的设置,将第一样品盘内部粉体进行搅拌,进而达到了分离第一样品盘内部粉体的作用,最后将分离后的粉体放置在粒度检测组件内部进行检测。

技术领域

本发明涉及粒度测试技术领域,具体为一种粒度检测装置。

背景技术

粒度测试,是通过特定的仪器和方法对粉体粒度特性进行表征的一项实验工作。粉体在我们日常生活和工农业生产中的应用非常广泛。如面粉、水泥、塑料、造纸、橡胶、陶瓷、药品等等。在不同应用领域中,对粉体特性的要求是各不相同的,在所有反映粉体特性的指标中,粒度分布是所有应用领域中最受关注的一项指标。所以客观真实地反映粉体的粒度分布是一项非常重要的工作。下面具体讲一下关于粒度测试方面的基知识和基本方法,而粒度测试通常使用粒度分析仪进行测试。

传统的粒度检测装置即粒度分析仪通过先通过水流将粉体样品进行打散,随后通过光照的直射对粉体的直径大小进行分析,而在此过程中,会出现微小颗粒被较大颗粒遮蔽的情况发生,进而影响粒度检测装置即粒度分析仪的检测分析效果,且传统的粒度检测装置在对粉体进行打散筛选时,不便于通过吹风的结构来避免搅拌结构内部被附着一定数量的粉体,且传统的粒度检测装置在对样品粉体进行输送时,不便于通过密封结构来一定程度上的维持样品粉体检测分析的环境。

针对上述问题,为此,提出一种粒度检测装置。

发明内容

本发明的目的在于提供一种粒度检测装置,解决了背景技术中传统的粒度检测装置即粒度分析仪通过先通过水流将粉体样品进行打散,随后通过光照的直射对粉体的直径大小进行分析,而在此过程中,会出现微小颗粒被较大颗粒遮蔽的情况发生,进而影响粒度检测装置即粒度分析仪的检测分析效果,且传统的粒度检测装置在对粉体进行打散筛选时,不便于通过吹风的结构来避免搅拌结构内部被附着一定数量的粉体,且传统的粒度检测装置在对样品粉体进行输送时,不便于通过密封结构来一定程度上的维持样品粉体检测分析的环境的问题。

为实现上述目的,本发明提供如下技术方案:一种粒度检测装置,包括粒度检测组件,粒度检测组件一侧设置有预处理组件,预处理组件下端设置有滚轮,且滚轮设置四组,粒度检测组件一侧开设有样品池构件和嵌合凹槽,且嵌合凹槽位置处于样品池构件围设的空间内部,预处理组件一侧设置有嵌合橡胶框,且嵌合橡胶框与样品池构件相匹配,预处理组件一侧底部设置有第二输送组件,预处理组件侧面上端设置有第一输送组件,第二输送组件包括开设在预处理组件一侧底部的输送槽,第二输送组件还包括设置在输送槽一侧的连接条,连接条设置两组,两组所述的连接条之间设置有输送带,输送带上端设置有第一样品盘,第二输送组件和第一输送组件为相同构造制成的构件;

预处理组件内部还开设有输送腔,且第二输送组件部分位置处于输送腔内部,输送腔一侧开设有搅拌腔,且搅拌腔与输送腔相连通,搅拌腔内部底端设置有稳固盘,搅拌腔一侧设置有第一伸缩杆,且第一伸缩杆的水平高度大于稳固盘的水平高度,搅拌腔上端开设有U型输送管道,且搅拌腔和U型输送管道相连通,U型输送管道内部上端设置有第一吸风组件,U型输送管道内部一端设置有第二吸风组件,第二吸风组件上端开设有均流孔,且均流孔设置多组,多组所述的均流孔上端设置有第二样品盘,预处理组件侧面设置有气体检测仪,气体检测仪一侧设置有检测探头,检测探头位置处于嵌合橡胶框围设的空间内部;

U型输送管道内部设置有缕空圆盘,缕空圆盘下端设置有固定柱,缕空圆盘水平位置低于第一吸风组件的水平位置,固定柱内部设置有升降构件,升降构件下端设置有螺旋杆,固定柱一侧设置有进气管,且进气管一端与外界相连通。

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