[发明专利]一种测试数据的批量生成方法、装置、设备及存储介质在审
| 申请号: | 202310467090.4 | 申请日: | 2023-04-26 |
| 公开(公告)号: | CN116501635A | 公开(公告)日: | 2023-07-28 |
| 发明(设计)人: | 王婕;易金华 | 申请(专利权)人: | 中国银行股份有限公司 |
| 主分类号: | G06F11/36 | 分类号: | G06F11/36 |
| 代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 陈颖 |
| 地址: | 100818 *** | 国省代码: | 北京;11 |
| 权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 测试数据 批量 生成 方法 装置 设备 存储 介质 | ||
1.一种测试数据的批量生成方法,其特征在于,所述方法包括:
获取用于测试的原始数据;
在所述原始数据的键值前设置拓展位,得到目标源数据;
确定待生成的测试数据的循环次数序列;其中所述循环次数序列是由1到预设循环值的按照从小到大排列的正整数组成的循环次数序列;
根据所述目标源数据和所述循环次序列确定目标测试数据;其中所述目标测试数据为预设循环值对应的数据;
将所述目标测试数据作为批量生成测试数据的结果。
2.根据权利要求1所述的测试数据的批量生成方法,其特征在于,所述根据所述目标源数据和所述循环次序列确定目标测试数据,包括:
根据所述目标源数据和循环值为1确定第一测试数据;其中所述第一测试数据中包括所述目标源数据和对所述目标源数据克隆得到的数据;
根据所述第一测试数据和循环值为2确定第二测试数据;其中所述第二测试数据包括所述第一测试数据和对所述第一测试数据克隆得到的数据;
按照所述第二测试数据的确定过程,依次确定所述循环次数序列中的剩余循环值对应的测试数据;
将预设循环值对应的测试数据作为目标测试数据。
3.根据权利要求1所述的测试数据的批量生成方法,其特征在于,所述在所述原始数据的键值前设置拓展位,得到目标源数据,包括:
根据待批量生成的测试数据的数量确定所述拓展位的位数值;
在所述原始数据的键值前设置所述位数值的数量的拓展位。
4.根据权利要求3所述的测试数据的批量生成方法,其特征在于,所述根据待批量生成的测试数据的数量确定所述拓展位的位数值,通过以下公式得到:
x=floor(lg(n+1))
其中,x表示位数值,floor表示向上取整,n表示待批量生成的测试数据的数量。
5.根据权利要求4所述的测试数据的批量生成方法,其特征在于,所述在所述原始数据的键值前设置所述位数值的数量的拓展位,通过以下公式得到:
y=(10x)|原始数据
其中,x表示位数值,|表示字符串拼接。
6.根据权利要求2所述的测试数据的批量生成方法,其特征在于,所述根据所述目标源数据和循环值为1确定第一测试数据,包括:
根据循环值为1确定待生成的目标测试数据与目标源数据之间的第一键值差;
根据所述目标源数据、第一键值差和位数值确定第一测试数据。
7.根据权利要求6所述的测试数据的批量生成方法,其特征在于,所述根据循环值为1确定待生成的目标测试数据与目标源数据之间的第一键值差,通过以下公式得到:
d=2i-1
其中,d表示第一键值差,i表示第i次循环对应的次数。
8.根据权利要求7所述的测试数据的批量生成方法,其特征在于,所述根据所述目标源数据、第一键值差和位数值确定第一测试数据,通过以下公式得到:
y=(a+d)|原始数据的键值
其中,y表示输出结果,a表示输入集键值前x+1位的字符对应的数值大小,x表示位数值,d表示第一键值差,|表示字符串拼接。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国银行股份有限公司,未经中国银行股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202310467090.4/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。





