[发明专利]一种电阻采样断线检测电路及方法

权利要求书

1.一种电阻采样断线检测电路，其特征在于，包括：

供电端，连接电阻器R1；

所述电阻器R1的2号引脚连接有电阻检测回路(1)和MCU的MCU_AD_1口；

所述电阻检测回路(1)连接所述MCU的MCU_Control_1口；

所述电阻器R1的3号引脚连接有短路限流回路(2)和所述MCU的MCU_AD_2口；

所述短路限流回路(2)用以限制短路电流，所述短路限流回路(2)连接所述MCU的MCU_Control_2口；

所述MCU判断是否故障及故障点；

所述MCU连接用户界面，将所述故障点显示在所述用户界面；

所述电阻器包括两线制电阻器R1和三线制电阻器R2；

所述三线制电阻器R2的1号引脚接入VDD端。

2.根据权利要求1所述的一种电阻采样断线检测电路，其特征在于，所述电阻检测回路(1)包括三极管Q2，所述三极管Q2的基极连接所述MCU_Control_1口，发射极通过电阻R7接地，集电极连接三极管Q1的基极和电阻R5；

所述三极管Q1的发射极连接电阻R4，所述电阻R4和所述电阻R5的另一端接入VCC端；

所述三极管Q1的集电极连接二极管D1的正极，所述二极管Q1的负极连接所述电阻器R1的2号引脚、电阻R2的一端和电阻R3的一端；

所述电阻R2的另一端接入VCC端，所述电阻R3的另一端连接电阻R6的一端和所述MCU_AD_1口，所述电阻R6的的另一端接地。

3.根据权利要求2所述的一种电阻采样断线检测电路，其特征在于，所述VDD端和所述VCC端的电压值不同。

4.根据权利要求1所述的一种电阻采样断线检测电路，其特征在于，所述电阻器R1的3号引脚通过电阻R8连接所述MCU_AD_2口，所述电阻R8和所述MCU_AD_2口之间还连接有电阻R9的一端，所述电阻R9的另一端接地。

5.根据权利要求1所述的一种电阻采样断线检测电路，其特征在于，所述短路限流回路(2)包括三极管Q3，所述三极管Q3的集电极连接所述电阻器R1的3号引脚，发射极通过电阻R13接地，基极连接电阻R10的一端，所述电阻R10的另一端连接运放的1号引脚；

所述运放的3号引脚通过电阻R12连接所述MCU_Control_2口；

所述运放的2号引脚连接电阻R11的一端，所述电阻R11的另一端连接所述三极管Q3的发射极。

6.一种电阻采样断线检测方法，其特征在于，所述方法适用于上述权利要求1-5所述的任一检测电路，所述方法包括检测方法一和检测方法二，所述检测方法一适用于两线制电阻器R1，所述检测方法二适用于三线制电阻器R2。

7.根据权利要求6所述的一种电阻采样断线检测方法，其特征在于，所述检测方法一包括：

S1、MCU初始化；

S2、MCU_Control_1口输出高电平，MCU_Control_2口输出低电平；

S3、所述MCU检测MCU_AD_1口的电压，并根据测量的电压值判断所述两线制电阻器R1的2号引脚是否断线；同时MCU检测MCU_AD_2口的电压，并根据测量的电压值判断所述两线制电阻器R1的3号引脚是否断线；

S4、所述MCU将检测结果显示在用户界面。

8.根据权利要求7所述的一种电阻采样断线检测方法，其特征在于，所述S3步骤中，在所述MCU_AD_2口电压值为0的情况下，所述MCU判定所述两线制电阻器R1的3号引脚断线。