[发明专利]一种测试例库生成方法、系统、设备及介质在审

专利信息
申请号: 202310418810.8 申请日: 2023-04-14
公开(公告)号: CN116401171A 公开(公告)日: 2023-07-07
发明(设计)人: 王凯;符云越;刘凯 申请(专利权)人: 山东云海国创云计算装备产业创新中心有限公司
主分类号: G06F11/36 分类号: G06F11/36
代理公司: 北京连和连知识产权代理有限公司 11278 代理人: 张元;马鹏林
地址: 250000 山东省济南市中国(山东)自由贸*** 国省代码: 山东;37
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摘要:
搜索关键词: 一种 测试 生成 方法 系统 设备 介质
【权利要求书】:

1.一种测试例库生成方法,其特征在于,包括:

基于系统验证特性将芯片测试类型分成多个基础测试标签;

对于具体的测试芯片根据所述基础测试标签对每个基础测试标签分别生成关于所述测试芯片的多个子测试标签;

将多个基础测试标签对应的子测试标签进行排列组合形成基本测试用例库。

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述基于系统验证特性将芯片测试类型分成多个基础测试标签包括:

基于处理器的工作模式生成关于处理器工作模式的基础测试标签;

基于处理器的运行速率生成关于处理器速率的基础测试标签。

3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述基于系统验证特性将芯片测试类型分成多个基础测试标签包括:

基于处理器上的对应的功能的子系统生成对应的子系统基础测试标签;

基于处理器通用的基础模块生成对应的基础配置测试标签。

4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,其特征在于,所述对于具体的测试芯片根据所述基础测试标签对每个基础测试标签分别生成关于所述测试芯片的多个子测试标签包括:

对于确定的测试芯片根据操作系统在所述测试芯片上对应的工作模式,并基于所述处理器工作模式的基础测试标签生成多种工作模式的处理工作模式子测试标签;

根据所述测试芯片运行频率生成多个关于所述测试芯片的处理器速率的子测试标签;

根据所述测试芯片中具有的对应的功能子系统生成多个对应的子系统基础测试的子标签;

根据所述测试芯片中具有的基础模块生成对应的基础配置的测试子标签。

5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述将多个基础测试标签对应的子测试标签进行排列组合形成基本测试用例库包括:

从每个基础测试标签分类下的多个子测试标签中选择一个子测试标签与其他基础测试标签分类下对应的子测试标签组成基本测试用例,并将基本测试用例添加到基本测试用例库。

6.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,还包括:

提供选择接口,通过所述选择接口接收基本测试用例库中对应的基本测试用例的选择概率和测试用例数量。

7.根据权利要求6所述的方法,其特征在于,还包括:

响应于通过所述选择接口收到用户输入的基本测试用例的选择概率和测试用例数量;

基于基本测试用例的选择概率从所述基本测试用例库中随机选择出满足所述测试用例数量个数的基板测试用例。

8.一种测试例库生成系统,其特征在于,包括:

测试分类模块,所述测试分类模块配置用于基于系统验证特性将芯片测试类型分成多个基础测试标签;

子标签生成模块,所述子标签生成模块配置用于对于具体的测试芯片根据所述基础测试标签对每个基础测试标签分别生成关于所述测试芯片的多个子测试标签;

测试用例生成模块,所述测试用例生成模块配置用于将多个基础测试标签对应的子测试标签进行排列组合形成基本测试用例库。

9.一种计算机设备,其特征在于,包括:

至少一个处理器;以及

存储器,所述存储器存储有可在所述处理器上运行的计算机指令,所述指令由所述处理器执行时实现权利要求1-7任意一项所述方法的步骤。

10.一种计算机可读存储介质,所述计算机可读存储介质存储有计算机程序,所述计算机程序被处理器执行时实现权利要求1-7任意一项所述方法的步骤。

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