[发明专利]一种性能调优的方法、装置、电子设备及介质

权利要求书

1.一种性能调优的方法，其特征在于，所述方法包括：

针对处于运行状态下的待调优应用，获取用于表征所述待调优应用的实际资源使用情况的描述信息；

根据所述描述信息从预定义的调优知识库集合中选择匹配于所述待调优应用的实际资源使用情况的调优知识库；其中，所述调优知识库集合用于记录预先定义的调优知识库，所述预先定义的调优知识库包括：分别对应于每一所述描述信息的各个备选取值的调优知识库；和/或，分别对应于各个取值组合的组合调优知识库，每一取值组合包含至少两类描述信息分别对应的备选取值，其中，每一调优知识库分别对应一种预期调优效果；

根据选择的调优知识库对所述待调优应用进行性能调优。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述描述信息包括下述至少之一：

所述待调优应用的应用属性，所述待调优应用处于所述运行状态下的资源占用情况，所述待调优应用的性能测量统计指标。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述根据所述描述信息从预定义的调优知识库集合中选择匹配于所述待调优应用的实际资源使用情况的调优知识库，包括：

在能够获取到所述应用属性的情况下，根据所述应用属性和所述资源占用情况与所述性能测量统计指标中至少之一的组合从所述预定义的调优知识库集合中选择所述调优知识库；

在无法获取到所述应用属性的情况下，根据所述资源占用情况和/或所述性能测量统计指标从所述预定义的调优知识库集合中选择所述调优知识库。

4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，

所述应用属性包括下述至少之一：所述应用所属的数据库类型、服务器类型、引擎类型；

所述资源占用情况包括所述应用对下述任一类型的硬件资源的使用情况：处理器资源、存储器资源、网络资源；

所述性能测量统计指标包括下述至少之一：响应时长、吞吐量、吞吐率、并发数、吞吐带宽、时延、命中率、未命中率。

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，还包括：

在选择的调优知识库的数量为多个的情况下，基于选择的多个调优知识库生成组合调优知识库，以用于对所述待调优应用进行性能调优。

6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述基于选择的多个调优知识库生成组合调优知识库，包括：

对选择的多个调优知识库进行组合和封装，以生成所述组合调优知识库。

7.一种性能调优的装置，其特征在于，所述装置包括：

获取单元，用于针对处于运行状态下的待调优应用，获取用于表征所述待调优应用的实际资源使用情况的描述信息；

选择单元，用于根据所述描述信息从预定义的调优知识库集合中选择匹配于所述待调优应用的实际资源使用情况的调优知识库；其中，所述调优知识库集合用于记录预先定义的调优知识库，所述预先定义的调优知识库包括：分别对应于每一所述描述信息的各个备选取值的调优知识库；和/或，分别对应于各个取值组合的组合调优知识库，每一取值组合包含至少两类描述信息分别对应的备选取值，其中，每一调优知识库分别对应一种预期调优效果；

调优单元，用于根据选择的调优知识库对所述待调优应用进行性能调优。

8.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，所述程序被处理器执行时实现如权利要求1~6任一所述方法的步骤。

9.一种电子设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述程序时实现如权利要求1~6任一所述方法的步骤。