[发明专利]一种基于线位移传感器分辨力测试装置的测量方法在审

专利信息
申请号: 202310371338.7 申请日: 2023-04-10
公开(公告)号: CN116202460A 公开(公告)日: 2023-06-02
发明(设计)人: 胡圩;胡敬礼 申请(专利权)人: 上海筑邦测控科技有限公司
主分类号: G01B21/02 分类号: G01B21/02
代理公司: 常州佰业腾飞专利代理事务所(普通合伙) 32231 代理人: 厉丹彤
地址: 200092 上海市杨*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 一种 基于 位移 传感器 分辨力 测试 装置 测量方法
【权利要求书】:

1.一种基于线位移传感器分辨力测试装置的测量方法,其特征在于:测试装置包括底座(1)、方形支架(2)、被测线位移传感器(3)、一体化线缆(4)、线膨胀杆(5)、加热棒(6)、L型支架(7)、数据处理及显示单元(8)和智能温度控制器(9);

其中线位移传感器(3)包括下盖(301)、上盖(302)、PCBA核心板(303)、摄像头模组(304)、标尺(305)、排插线缆(306)、航空插座(307)、导杆(308)、固定端头(309);

其中摄像头模组(304)自带灯光;

其中PCBA核心板(303)用于图像识别及原始数据传输;

其中排插线缆(306)连接PCBA核心板(303)和航空插座(307),用于线位移传感器(3)的供电及数据传输;

其中固定端头(309)与导杆(308)螺纹连接且用螺纹厌氧胶固化;

其中固定端头(309)、L形支架(7)和方形支架(2)均为陶瓷材质;

其中导杆(308)、标尺(305)和底座(1)均为殷钢材质;

线位移传感器(3)的一端通过下盖(301)上的安装孔与方形支架(2)作螺纹紧固连接,另一端通过固定端头(309)上的安装孔与线膨胀杆(5)作螺纹紧固连接,加热棒(6)通过自带的凸起螺纹嵌入在线膨胀杆(5)上,线膨胀杆(5)通过螺钉固定在L型支架(7)上,方形支架(2)和L型支架(7)均通过螺钉固定在底座(1)上;

线位移传感器(3)经通过一体化线缆(4)与数据处理及显示单元(8)电连接,加热棒(6)附带线缆中的发热线及热电偶与智能温度控制器(9)电连接;

数据处理及显示单元(8)主要用于处理线位移传感器(3)发送过来的标尺刻度信息,并经过滤波算法后将标尺刻度信息以刻度示值的形式显示出来;

智能温度控制器(9)用于控制加热棒(6)的温度;

测量方法包括以下步骤:

步骤一:将被测传感器(3)安装在测试装置上;

步骤二:将一体化线缆(4)分别连接被测传感器(3)上的航空插座(307)和数据处理及显示单元(8)上;

步骤三:将加热棒(6)附带线缆中的发热线及热电偶分别连接在智能控制器(9)上;

步骤四:启动数据处理及显示单元(8),确认设备工作正常;

步骤五:启动智能温度控制器(9),确认设备工作正常;

步骤六:调节智能温度控制器(9)上的功能按键,将设定温度调整为测试所需数值,同时确认该设定温度符合线膨胀杆(5)所用材料规定的温度范围,在此温度范围内线膨胀杆(5)的膨胀系数保持不变;

步骤七:仔细观察加热过程,直到确认实时温度的波动处在设定温度的±0.1℃以内;

步骤八:记录此时智能温度控制器(9)上的设定温度数值,和数据处理及显示单元(8)所显示的传感器刻度示值,从而获得坐标点[设定温度,刻度示值];

步骤九:调节功能按键使得设定温度=上次设定温度+温度增量,循环重复步骤六、步骤七、步骤八,直至获得所需N对坐标点;

步骤十:将以上N对坐标点连成曲线,获得设定温度-刻度示值曲线图并判断:

a)如果曲线呈水平线,说明加热棒温度发生变化了,但线位移传感器输出的刻度示值却始终未发生变化,说明线膨胀杆的线膨胀量太小,需要提高温度增量,或者更换线膨胀系数更大的材料;

b)如果曲线呈倾斜线,说明加热棒每次的温度变化,都带来了线位移传感器的刻度变化,说明了线膨胀杆的膨胀量太大,需要减小温度增量,或者更换线膨胀系数更小的材料;

c)如果曲线呈阶梯形,即每一个台阶平台上至少有2个数据,每次台阶跳跃都是一次完成,没有中间值,则说明线膨胀杆材料及测试选择的温度增量都比较合适;

步骤十一:根据以上阶梯曲线的数据来计算分辨力。

2.根据权利要求1所述的一种基于线位移传感器分辨力测试装置的测量方法,其特征在于:

步骤十一中,计算分辨力的方法为:获取阶梯曲线上的每个台阶的台阶值,然后依据上述台阶值的算术平均值计算分辨力。

3.根据权利要求1所述的一种基于线位移传感器分辨力测试装置的测量方法,其特征在于:

步骤十一中,计算分辨力的方法为:按最大累计输入位移及台阶数来计算分辨力,其中,分辨力=传感器刻度示值累计增量/台阶数。

4.根据权利要求1所述的一种基于线位移传感器分辨力测试装置的测量方法,其特征在于:测试所需温度范围为20~100℃。

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