[发明专利]一种薄壁回转构件校形装置及校形方法

权利要求书

1.一种薄壁回转构件校形装置，包括支座（1），其特征在于：在支座（1）上设置有承力架（2），在承力架（2）上设置有竖向布置的旋进机构，旋进机构的加载杆（3）下端固定连接锥台（4），锥台（4）上端直径大于锥台（4）下端直径，在锥台（4）外围设置有至少两个弧形分瓣体（5），所有弧形分瓣体（5）的外弧面位于同一个圆周上，所有弧形分瓣体（5）的外弧面用于贴靠回转件（10）内壁，所有弧形分瓣体（5）的内弧面贴靠锥台（4）外侧壁，所有弧形分瓣体（5）的内弧面所在的内圆周呈锥形结构，且内圆周上部直径大于内圆周下部直径；当加载杆（3）转动时，加载杆（3）和锥台（4）整体同步上移或下移，且锥台（4）顺着弧形分瓣体（5）的内弧面贴壁移动。

2.根据权利要求1所述的薄壁回转构件校形装置，其特征在于：所述的旋进机构包括设置在承力架（2）上的螺孔，螺孔中用于配合所述加载杆（3）的外螺纹，所述加载杆（3）上端连接驱动机构或手柄。

3.根据权利要求2所述的薄壁回转构件校形装置，其特征在于：在锥台（4）底部设置有尖部（6），在锥台（4）上设置有上粗下细的锥形孔（7）。

4.根据权利要求1-3任一项所述的薄壁回转构件校形装置，其特征在于：还包括设置有在弧形分瓣体（5）外侧且水平布置的红外测距传感器，红外测距传感器的探测点作用于回转构件（10）外壁，红外测距传感器连接控制器，控制器的存储模块上存储有可在处理模块上运行的程序，所述处理模块执行所述程序时实现以下步骤/功能：

S1，实时读取基准点到回转构件（10）外壁的探测点的水平距离L1；

S2，读取距离阀值，该距离阀值为基准点到回转构件（10）外壁非凹陷部位的水平距离L；

S3，当获取到校形部位的探测点及其附多处位置的水平距离L1均等于距离阀值时，表示探测点所在部位校形完成。

5.根据权利要求4所述的薄壁回转构件校形装置，其特征在于：还包括设置在弧形分瓣体（5）外侧的丝杠传动机构，红外测距传感器安装在丝杠传动机构的活动螺母上，丝杠传动机构的丝杠竖直布置，控制器连接丝杠传动机构的驱动系统并控制其运行；加载杆（3）上部作为涡轮蜗杆传动机构的蜗杆，加载杆（3）通过涡轮连接电机，控制器连接该电机并控制其运行。

6.一种采用权利要求5所述薄壁回转构件校形装置的校形方法，其特征在于，步骤包括：

步骤1，控制旋进机构的加载杆（3）运行至上极限位置一，控制丝杠传动机构的活动螺母运行至上极限位置二；

步骤2，先往回转构件（10）内腔灌入刚性细颗粒材料，然后将带有刚性细颗粒材料的回转构件（10）放置在加载杆（3）正下方的支座（1）上，并确保加载杆（3）轴线与回转构件（10）轴线重合；

步骤3，控制丝杠传动机构运行，使活动螺母和红外测距传感器顺着丝杠同步下移，并利用红外测距传感器实时获取多个水平距离L1，采用获取到的至少五组相同的水平距离L1作为距离阀值L；

步骤4，继续控制丝杠传动机构运行，使红外测距传感器的探测点移动至待校正部位；

步骤5，控制电机运行，使加载杆（3）匀速下移，并在此过程中实时获取基准点到回转构件（10）外壁的探测点的水平距离L1；

步骤6，当获取到探测点及其附近多处位置的水平距离L1均等于距离阀值时，表示探测点所在待校正部位校形完成；

步骤7，水平旋转回转构件（10），参照步骤1、步骤3-步骤6对下一个待校正部位进行校形。

7.根据权利要求6所述的校形方法，其特征在于：所述的刚性细颗粒材料采用粒径不大于20目的石英砂，灌入的刚性细颗粒材料顶面高于回转构件（10）上最上方的待校正部位顶部。

8.根据权利要求7所述的校形方法，其特征在于，步骤2还包括：采用顶杆顶住回转构件（10）下部，顶杆螺纹连接承力架（2）。