[发明专利]多栅结构场效应晶体管pH传感器及制造方法在审

专利信息
申请号: 202310353803.4 申请日: 2023-03-31
公开(公告)号: CN116429841A 公开(公告)日: 2023-07-14
发明(设计)人: 陈伟;王宗辉;乌昕;黄旭东;金庆辉;唐波 申请(专利权)人: 宁波水表(集团)股份有限公司
主分类号: G01N27/22 分类号: G01N27/22
代理公司: 北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙) 11463 代理人: 张萌
地址: 315000 浙*** 国省代码: 浙江;33
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 结构 场效应 晶体管 ph 传感器 制造 方法
【权利要求书】:

1.一种多栅结构场效应晶体管pH传感器,其特征在于,包括:基板、第一栅极、漏极、沟道层、源极、第三栅极、第二介电层和第二栅极;第二栅极为储液槽中的溶液和参比电极构成的液接式栅极;

其中,所述基板的顶面设置有所述第一栅极;所述第一栅极的顶面设置有第一介电层;所述第一介电层的顶面设置有所述漏极、所述沟道层和所述源极;所述漏极、所述沟道层和所述源极的顶面设置有所述第二介电层;所述第二介电层的顶面设置有所述第二栅极;所述第二栅极为储液槽中的溶液和参比电极构成的液接式栅极;所述第一介电层的顶面还设置有所述第三栅极,其中,所述第三栅极与所述漏极、所述沟道层和所述源极均处于同一平面;所述第二栅极的顶面设置有所述储液槽,所述储液槽用于盛装待测液体;所述储液槽中还设置有参比电极,用于稳定电位。

2.根据权利要求1所述的多栅结构场效应晶体管pH传感器,其特征在于,所述基板的材质为半导体Si。

3.根据权利要求1所述的多栅结构场效应晶体管pH传感器,其特征在于,所述第一栅极、所述第三栅极、所述源极和所述漏极的材质均为金属Al。

4.根据权利要求3所述的多栅结构场效应晶体管pH传感器,其特征在于,所述第三栅极、所述源极和所述漏极的金属Al表面镀有金属Au。

5.根据权利要求1所述的多栅结构场效应晶体管pH传感器,其特征在于,所述第一介电层的材质为SiO2

6.根据权利要求1所述的多栅结构场效应晶体管pH传感器,其特征在于,所述沟道层的材质为铟镓锌氧化物。

7.根据权利要求6所述的多栅结构场效应晶体管pH传感器,其特征在于,所述铟镓锌氧化物的摩尔组分构成为In2O3:Ga2O3:ZnO=2:1:2。

8.根据权利要求1所述的多栅结构场效应晶体管pH传感器,其特征在于,所述第二介电层的材质为TiO2

9.根据权利要求1所述的多栅结构场效应晶体管pH传感器,其特征在于,所述参比电极的材质为金属Ag和AgCl。

10.一种多栅结构场效应晶体管pH传感器的制造方法,其特征在于,所述方法包括:

将硅片置于清洗液中进行清洗,以获得基板;

在所述基板的顶面采用电子束蒸发工艺制备一层金属Al薄膜作为第一栅极;

在所述第一栅极的顶面用等离子体增强化学气相沉积在所述第一栅极的顶面沉积一层SiO2薄膜作为第一介电层;

制备铟镓锌氧化物薄膜,并利用射频磁控溅射法将所述铟镓锌氧化物薄膜沉积在所述第一介电层的顶面,并通过光刻将所述铟镓锌氧化物薄膜图形化,用稀氢氟酸进行湿法刻蚀到预设形状后,再在氧气氛围中350℃退火1小时,以得到沟道层;

在所述第一介电层的顶面分别采用电子束蒸发工艺制备金属Al薄膜作为源极、漏极以及第三栅极的材料,并在所述金属Al薄膜表面溅射一层金属Au,通过金属剥离工艺将金属Al/Au图案化所述沟道层形成对应的沟道;

在所述沟道层的顶面通过原子层沉积的方法沉积一层TiO2薄膜作为第二介电层的材料,并通过光刻刻蚀工艺将TiO2薄膜图案化,将制作完的TiO2薄膜在真空氛围300℃退火30min,以得到第二栅极;

使用涂胶机将光刻胶均匀涂在所述第二栅极的顶面上,再通过光刻显影得到预设图案后去胶,制备出预设尺寸的储液槽。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于宁波水表(集团)股份有限公司,未经宁波水表(集团)股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202310353803.4/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top