[发明专利]一种图像校正方法及装置、设备、芯片、存储介质

权利要求书

1.一种图像校正方法，其特征在于，所述方法包括：

根据当前待校正的至少一个像素点的位置信息，从第一存储单元预先读取所述至少一个像素点的参考增益值；其中，所述第一存储单元存储第一图像传感器的第一离散校正增益表；

获取所述第一图像传感器输出的所述至少一个像素点的原始值；

将所述至少一个像素点的参考增益值和原始值输入到至少一个插值器，输出所述至少一个像素点的校正值；

根据每个像素点的校正值，得到校正后的第一图像数据。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据当前待校正的至少一个像素点的位置信息，从第一存储单元预先读取所述至少一个像素点的参考增益值，包括：

根据当前待校正的至少一个像素点中第一像素点的位置信息，确定所述第一像素点在所述第一离散校正增益表中的至少一个参考点的位置信息；其中，所述第一像素点为所述当前待校正的至少一个像素点中任意一个；

根据所述第一像素点的至少一个参考点的位置信息，确定所述第一像素点的至少一个参考增益值在所述第一存储单元的存储地址；

根据所述第一存储单元的存储地址，读取所述第一像素点的至少一个参考增益值。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述第一存储单元用于存储M×N个元素的增益值，M和N均取大于0的整数，每个元素包括相邻的Q×P个参考点的增益值，Q和P均取大于0的整数，一个元素对应一个存储地址；

Q和P中的至少一个取值大于1时，所述根据所述第一存储单元的存储地址，读取所述第一像素点的至少一个参考增益值，包括：

根据所述第一存储单元的存储地址，读取所述第一像素点的至少一个元素的参考增益值集合；

根据所述第一像素点的至少一个参考点的位置信息，从所述至少一个元素的参考增益值集合，确定所述第一像素点的至少一个参考点的参考增益值。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，

所述第一存储单元包括M×N个的存储空间，每个存储空间用于存储一个元素，每个存储单元的宽度为Q×P×W，其中W为一个参考点增益值所占的比特位。

5.根据权利要求4所述的方法，所述第一存储单元还包括至少一个预留存储空间。

6.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，Q和P中的至少一个取值大于1时，所述第一图像传感器为基于Q×P倍拜耳编码技术的图像传感器。

7.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

对下一次待校正的至少一个像素点进行校正之前，确定下一次待校正的至少一个像素点的参考点和当前待校正的至少一个像素点的参考点相同时，将所述第一像素点的至少一个参考点的参考增益值作为所述第二像素点的至少一个参考点的参考增益值；其中，所述第二像素点为所述下一次待校正的至少一个像素点中任意一个；

对下一次待校正的至少一个像素点进行校正之前，确定下一次待校正的至少一个像素点的参考点和当前待校正的至少一个像素点的参考点不同时，根据下一次待校正的至少一个像素点的位置信息，从所述第一存储单元预先读取所述下一次待校正的至少一个像素点的参考增益值。

8.根据权利要求2-7任一项所述的方法，其特征在于，所述插值器基于双线性插值算法确定增益值时，所述第一像素点对应四个参考点的参考增益值；

所述将所述至少一个像素点的参考增益值和原始值输入到至少一个插值器，输出所述至少一个像素点的校正值，包括：

通过插值器对所述第一像素点对应的四个参考点的参考增益值沿X轴方向进行两次线性插值，得到两个X方向的增益值；

通过插值器对两个X方向的增益值沿着Y方向进行一次线性插值，得到所述第一像素点的最终增益值；

通过插值器对所述第一像素点的最终增益值和原始值进行增益运算，得到所述第一像素点的校正值。