[发明专利]信号测试方法、系统、激光探棒、装置、设备及存储介质

权利要求书

1.一种信号测试方法，其特征在于，所述方法包括：

将待测板卡放置于板卡测试台上，对所述待测板卡进行拍摄取样，得到所述待测板卡的板卡照片；

对所述待测板卡的PCB图进行待测点分析，在所述PCB图上标注出理论待测点以及理论接地点，得到标注后的PCB图；

将所述板卡照片与所述标注后的PCB图输入预先训练好的待测点坐标读取网络中，得到所述待测板卡的实际待测点坐标与实际接地点坐标；

将所述实际待测点坐标与所述实际接地点坐标发送至所述板卡测试台上的探测棒控制器中；

通过所述探测棒控制器控制激光探棒，根据所述实际待测点坐标与所述实际接地点坐标对所述待测板卡进行扎测，得到所述实际待测点处的测试信号波形图。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述待测点坐标读取网络的训练步骤包括：

收集多个已标注理论待测点的PCB图和与所述PCB图对应的多个未标注理论待测点的待测板卡照片；

将所述多个PCB图和与所述PCB图对应的多个待测板卡照片相叠加，得到多张训练图片；

针对所述多张训练图片中的每张训练图片，将所述训练图片对应的待测板卡的实际待测点坐标作为所述训练图片的标签，得到多组训练数据；

通过所述多组训练数据对预先构建的卷积神经网络进行训练，得到所述待测点坐标读取网络。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述通过所述多组训练数据对预先构建的卷积神经网络进行训练，得到所述待测点坐标读取网络，包括：

将所述多组训练数据平均划分为N个子集，将所述N个子集中的部分子集作为训练集，另一部分子集作为验证集；

依次通过所述训练集和所述测试集对所述卷积神经网络进行训练，确定所述卷积神经网络的最优结构与最优超参数，得到确定结构参数的卷积神经网络；

通过所述多组训练数据对所述确定结构参数的卷积神经网络进行重新训练，得到所述待测点坐标读取网络。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述将待测板卡放置于板卡测试台上，对所述待测板卡进行拍摄取样，得到所述待测板卡的板卡照片，包括：

将所述待测板卡按照预设的限位坐标放置于所述板卡测试台上；

通过所述板卡测试台上的摄像头对所述待测板卡进行拍摄取样，得到所述板卡照片。

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述通过所述板卡测试台上的摄像头对所述待测板卡进行拍摄取样，得到所述板卡照片，包括：

通过所述摄像头，按照预设的取样坐标，对所述待测板卡进行局部拍摄取样，得到多张局部待测板卡照片；

对所述多张局部待测板卡照片进行拼接，得到所述待测板卡照片。

6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述对所述待测板卡的PCB图进行待测点分析，在所述PCB图上标注出理论待测点，得到标注后的PCB图，包括：

根据所述PCB图中的待测信号的信号类型以及链路，确定所述PCB图中的理论待测点坐标以及接地点坐标；

根据所述理论待测点坐标以及所述接地点坐标，在所述PCB图中标注出所述理论待测点以及所述接地点，得到所述标注后的PCB图。

7.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述通过所述探测棒控制器控制激光探棒，根据所述实际待测点坐标与所述实际接地点坐标对所述待测板卡进行扎测，得到所述实际待测点处的测试信号波形图，包括：

所述探测棒控制器控制所述激光探棒移动至所述实际待测点坐标的上方；

所述探测棒控制器控制所述激光探棒向下方移动；

当所述激光探棒内的探针接触到所述待测板卡时，将所述实际待测点处的测试信号发送至示波器端；

所述示波器根据所述测试信号，生成所述测试信号波形图。