[发明专利]玻璃基板托盘平面度测量方法及系统

说明书

本公开提供一种玻璃基板托盘平面度测量方法及系统，属于玻璃基板托盘平面度测量技术领域。该方法包括步骤：设定沿第一方向呈队列布置的M个激光测距传感器沿其运动方向自起始点至终点的N个停顿点；其中，M、N为不小于2的自然数，所述第一方向与所述运动方向垂直；在所述M个激光测距传感器同步沿所述运动方向自所述起始点运动至所述终点扫过待测玻璃基板托盘时，获取每一所述激光测距传感器于每一所述停顿点的测量数据；基于所有的所述测量数据形成M*N网格图并视觉呈现。本公开智能化、自动化和精准度高且快捷简便易于实现，实现了玻璃基板托盘的平面度测量的快速、准确且高效。

技术领域

本公开涉及玻璃基板托盘平面度测量技术领域，尤其涉及一种玻璃基板托盘平面度测量方法及系统。

背景技术

随着玻璃基板行业的快速发展，对玻璃基板生产、加工、检查、包装各分区设备的精度要求越来越高。尤其是包装区的成品托盘，托盘的平面度是至关重要的，需要确保每一片玻璃与托盘的接合面严丝合缝，这样在包装完几百张玻璃后也能够保证每张玻璃之间几乎没有缝隙，运输过程中就不会出现因路途颠簸而玻璃破损的问题。但现阶段测量托盘的平面度只能通过刀口尺及塞尺的配合测量再通过人工读数得出数据。

以G8.5托盘为例，现阶段要求G8.5托盘平面度为≤2mm，而这种通过刀口尺及塞尺的配合测量再通过人工读数得出数据的测量方式存在以下问题：

1.由于G8.5托盘上表面尺寸约为3000x2500的方形，那么就需要配备的4200mm的长度刀口尺，这样检测人员在使用时会因量具过长而出现测量不便的问题。

2.G8.5托盘的面积相对较大，检测人员需要从横向、纵向、对角各方向多次放置刀口尺，再用塞尺测量读数，操作繁琐，测量不快。

3.检测人员是通过肉眼观测，这样不可避免的会产生读数的误差，出现测量不准的情况。

因此在检测G8.5托盘平面度时会存在测量不便，测量不准，测量不快的问题。

为解决以上问题，亟需一种能够方便、准确、高效测量托盘平面度的方法。

发明内容

本公开所要解决的一个技术问题是：在玻璃基板包装环节中怎样方便、准确、高效测量托盘平面度。

为解决上述技术问题，本公开实施例提供一种玻璃基板托盘平面度测量方法及系统，该方法包括步骤：

S1，设定沿第一方向呈队列布置的M个激光测距传感器沿其运动方向自起始点至终点的N个停顿点；其中，M、N为不小于2的自然数，第一方向与运动方向垂直；

S2，在M个激光测距传感器同步沿运动方向自起始点运动至终点扫过待测玻璃基板托盘时，获取每一激光测距传感器于每一停顿点的测量数据；

S3，基于所有的测量数据形成M*N网格图并视觉呈现。

在一些实施例中，步骤S3之后还包括步骤：

S4，基于M*N网格图判定待测玻璃基板托盘的平面度是否满足预设要求；

当满足预设要求时，则执行步骤：

S51，判定待测玻璃基板托盘合格；

当不满足预设要求时，则执行步骤：

S52，判定待测玻璃基板托盘不合格。

在一些实施例中，步骤S52之后还包括步骤：

S6，根据M*N网格图输出待测玻璃基板托盘的调整数据使其满足预设要求。

在一些实施例中，步骤S4具体包括步骤：标记并呈现M*N网格图的低谷区域和峰值区域。