[发明专利]一种测试方法、设备和存储介质

说明书

本申请实施例公开了一种测试方法、设备和存储介质，其中，所述测试方法，包括：调节与待测散热器件的连接关系，以使得所述待测散热器件中形成短路电阻；获取所述待测散热器件在预设时间内所要解决的热量值；基于所述热量值确定所述待测散热器件的类型。

技术领域

本申请涉及计算机技术领域，尤其涉及一种测试方法、设备和存储介质。

背景技术

CPU为中央处理器的简称，它是一台计算机的运算核心和控制核心，CPU在工作时常会产生大量的热量，如果不将热量及时散去，CPU将会因为过热而损坏。为了防止CPU被烧毁，人们在安装CPU后，通常会在主板上安装散热器对CPU进行散热降温。

然而，在一个系统中可以安装有多个散热器，而每个CPU通常都有自己专用的散热器解决方案，在不对计算机进行拆解的情况下，很难判断各个散热器的类型，由此导致无法有针对性的为CPU制定完善的散热方案，从而导致散热器的散热效率降低，影响散热效果。

发明内容

本申请实施例期望提供一种测试方法、设备和存储介质。

本申请的技术方案是这样实现的：

本申请第一方面的实施例提供一种测试方法，包括：

调节与待测散热器件的连接关系，以使得所述待测散热器件中形成短路电阻；

获取所述待测散热器件在预设时间内所要解决的热量值；

基于所述热量值确定所述待测散热器件的类型。

可选地，所述调节与待测散热器件的连接关系，以使得所述待测散热器件中形成短路电阻，包括：

利用测试模块的第一测试探针和第二测试探针分别与所述待测散热器件两端的触点相接触，在所述待测散热器件中形成短路电阻。

可选地，所述基于所述热量值确定所述待测散热器件的类型，包括：

将所述热量值与预设参照值进行比较，确定所述待测散热器件的类型。

可选地，所述基于所述热量值确定所述待测散热器件的类型，包括：

基于所述热量值，确定所述待测散热器件的产热功率；

基于所述产热功率确定所述待测散热器件的类型。

可选地，所述基于所述热量值确定所述待测散热器件的类型，包括：

基于所述热量值和所述待测散热器件两端的电压，确定所述待测散热器件的热阻值；所述热阻值为所述待测散热器件中形成的短路电阻；

基于所述热阻值确定所述待测散热器件的类型。

本申请第一方面的实施例提供一种测试设备，包括热量仪、第一测试探针和第二测试探针；

所述第一测试探针和所述第二测试探针分别用于与待测散热器件两端的触点相接触，在所述待测散热器件中形成短路电阻；

所述热量仪用于获取所述待测散热器件在预设时间内所要解决的热量值。

可选地，还包括驱动模块，所述驱动模块用于为所述待测散热器件提供测试电压。

可选地，所述驱动模块连接有散热组件，所述散热组件用于对所述待测散热器件进行散热。

可选地，还包括选择开关，所述选择开关用于调节与不同散热器件的连接关系；所述待测散热器件为至少两个散热器件中的任一个散热器件。

本申请的第三方面的实施例提供一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时，实现第一方面所述方法的步骤。