[发明专利]基于温控的电芯容量测试方法及装置、计算机存储介质

权利要求书

1.一种基于温控的电芯容量测试方法，其特征在于，所述方法包括：

调整待测电芯的电芯温控参数，以使所述电芯温控参数满足预设的测试条件，所述电芯温控参数包括所述待测电芯的极柱温度和电芯表面温度；

确定对所述待测电芯执行容量测试操作对应的测试类型，所述测试类型包括测试所述待测电芯的充电容量对应的充电类型或测试所述待测电芯的放电容量对应的放电类型；

调整所述待测电芯至与所述测试类型匹配的电芯状态，并在所述电芯状态下，按照预设测试时长、预设倍率的测试电流对所述待测电芯重复执行与所述测试类型匹配的容量测试操作直至所述待测电芯满足测试截止参数，得到多个所述待测电芯对应的容量测试数据；

分析所述充电类型对应的所述容量测试数据以及所述放电类型对应的所述容量测试数据，得到所述待测电芯对应的目标容量；

其中，与所述测试类型匹配的电芯状态包括所述待测电芯的当前电储量等于预设截止电量以及所述待测电芯的所述电芯温控参数与所述待测类型对应的测试温度相匹配。

2.根据权利要求1所述的一种基于温控的电芯容量测试方法，其特征在于，当所述测试类型为所述充电类型时，所述测试截止参数为该待测电芯对应的上限截止电压和/或截止时长；与所述测试类型匹配的容量测试操作为充电操作以及降温搁置操作；

当所述测试类型为所述充电类型时，所述测试截止参数为该待测电芯对应的下限截止电压和/或截止时长；与所述测试类型匹配的容量测试操作为放电操作以及降温搁置操作；

其中，所述测试截止参数用于判断是否需要对所述待测电芯继续执行所述容量测试操作。

3.根据权利要求2所述的一种基于温控的电芯容量测试方法，其特征在于，所述按照预设测试时长、预设倍率的测试电流对所述待测电芯重复执行与所述测试类型匹配的容量测试操作直至所述待测电芯满足测试截止参数，得到多个所述待测电芯对应的容量测试数据，包括：

在对所述待测电芯执行所述容量测试操作的循环测试流程中，根据预设倍率的测试电流以及预设测试时长，对所述待测电芯执行与所述测试类型匹配的容量测试操作，得到所述待测电芯对应的单次量变数据以及温升数据，所述单次量变数据为所述待测电芯在该循环测试流程中电芯容量的变化数据，所述温升数据包括最高温度以及搁置时长，所述最高温度为所述待测电芯在该循环测试流程中所述电芯温控参数发生升温的最高温度，所述搁置时长为对所述待测电芯执行降温操作以使其从所述最高温度调整至所述测试温度耗费的时间；

重复执行所述循环测试流程直至确定所述待测电芯满足测试截止参数时，将所有所述循环测试流程得到的所述单次量变数据以及所述温升数据确定为所述待测电芯对应的容量测试数据。

4.根据权利要求3所述的一种基于温控的电芯容量测试方法，其特征在于，每一所述循环测试流程得到的所述温升数据还包括升温时长，所述升温时长为该循环测试流程中所述电芯温控参数变化至所述最高温度对应的变化时长；

针对任一所述循环测试流程，所述对所述待测电芯执行降温操作，包括：

根据所述测试温度、所述升温时长以及所述最高温度，确定所述待测电芯在当前测试环境下的温度变化信息，并根据所述温度变化信息计算所述待测电芯从所述最高温度下降至所述测试温度对应的降温时长，作为搁置时长；

根据所述搁置时长对所述待测电芯执行降温操作，以使所述待测电芯从所述最高温度调整至所述测试温度。