[发明专利]光电检测电路

权利要求书

1.一种光电检测电路，其特征在于，包括：光敏传感器、第一晶体管、跨阻放大器、第一反馈电阻和低通滤波模块；所述光敏传感器的第一端与电源连接，所述光敏传感器的第二端、第一晶体管的第一端、所述跨阻放大器的第一端和所述第一反馈电阻的第一端连接于第一公共端，所述跨阻放大器的第二端外接第一偏置电压，所述跨阻放大器的第三端、所述第一反馈电阻的第二端与所述低通滤波模块的第一端连接于第二公共端，所述低通滤波模块的第二端与所述第一晶体管的第二端连接；所述第一晶体管的第三端接地；

所述光敏传感器，用于接收光源发射的测试光信号以及环境光信号，并将所述测试光信号和所述环境光信号转换为电流信号，所述电流信号包括：高频测试电流信号和低频环境电流信号；

所述跨阻放大器，用于接收所述电流信号，并将所述第一反馈电阻两端的基于所述电流信号产生的电压信号传输至所述低通滤波模块；所述电压信号包括基于测试光信号生成的高频电压信号，以及基于环境光信号生成的低频电压信号；

所述低通滤波模块，用于在接收到第一反馈电阻两端的电压信号后，吸收所述电压信号中的高频电压信号，并将低频电压信号传输至所述第一晶体管，以使所述第一晶体管产生反向的低频电流信号；

所述跨阻放大器，还用于在接收到所述第一晶体管产生的反向的低频电流信号后，输出基于所述测试光信号生成的高频电信号。

2.根据权利要求1所述的光电检测电路，其特征在于，所述低通滤波模块，包括：误差放大器和第一电容；所述误差放大器的第一端和所述跨阻放大器的第三端连接，所述误差放大器的第二端、所述第一电容的第一端和所述第一晶体管的第二端连接于第三公共端，所述误差放大器的第三端外接第二偏置电压；所述第一电容的第二端接地；所述误差放大器、所述第一电容、所述第一晶体管、所述跨阻放大器和所述第一反馈电阻构成负反馈环路；

所述第一电容，用于吸收所述误差放大器传输的高频电压信号；

所述误差放大器，用于将所述低频电压信号传输至所述第一晶体管。

3.根据权利要求1所述的光电检测电路，其特征在于，还包括第二反馈电阻；所述跨阻放大器为差分跨阻放大器；

所述第一公共端分别与所述差分跨阻放大器的第一端和所述第一反馈电阻的第一端连接，所述差分跨阻放大器的第二端与所述第二反馈电阻的第一端连接且外接第一偏置电压；所述差分跨阻放大器的第三端、所述第一反馈电阻的第二端和所述低通滤波模块的第一端连接于所述第二公共端，所述差分跨阻放大器的第四端、所述第二反馈电阻的第二端和所述低通滤波模块的第三端连接于所述第二公共端；所述低通滤波模块的第二端与所述第一晶体管的第二端连接；所述第一晶体管的第三端接地。

4.根据权利要求1-3任一项所述的光电检测电路，其特征在于，所述第一晶体管为NMOS晶体管；所述NMOS晶体管的栅极与所述低通滤波模块的第二端连接；所述NMOS晶体管的漏极和所述跨阻放大器的第一端连接；所述NMOS晶体管的源极接地。

5.根据权利要求1-3任一项所述的光电检测电路，其特征在于，还包括：第二电容，所述第二电容与所述第一反馈电阻并联。