[发明专利]剩余寿命预估方法、装置、存储介质及监测设备

说明书

本申请提供一种剩余寿命预估方法、装置、存储介质及监测设备，涉及电子技术领域。其中，监测设备获取目标设备在历史工况下的历史工作损伤；将历史工作损伤换算为目标设备在参考工况下的等效累计损伤，根据等效累计损伤与目标设备在参考工况下的极限工作损伤，获得目标设备在历史工况作用下的剩余使用寿命。如此，将目标设备在历史工况下的历史工作损伤转换为参考工况下的等效累计损伤，从而预估出目标设备在历史工况作用下的剩余使用寿命。

技术领域

本申请涉及电子技术领域，具体而言，涉及一种剩余寿命预估方法、装置、存储介质及监测设备。

背景技术

目前，在对电子设备的健康状态进行监测时，更多的是对电子设备瞬时的状态进行监测，例如，设备瞬时的温度、电流、电压等特征参数来进行健康监测。

研究发现，该方式只能监控当前的电子设备状态，而不能对未来状态进行评估；并且，一些高精度的电子设备在寿命快要达到极限时，电子设备精度为出现大幅度下滑，因此，预估设备的剩余寿命具有重要意义。

发明内容

为了克服现有技术中的至少一个不足，本申请提供一种剩余寿命预估方法、装置、存储介质及监测设备，用于预估目标设备在历史工况作用下的剩余使用寿命，具体包括：

第一方面，本申请提供一种剩余寿命预估方法，所述方法包括：

获取目标设备在历史工况下的历史工作损伤；

将所述历史工作损伤换算为所述目标设备在参考工况下的等效累计损伤，其中，所述历史工况与所述参考工况均属于相同的工况类型；

根据所述等效累计损伤与所述目标设备在所述参考工况下的极限工作损伤，获得所述目标设备在所述历史工况作用下的剩余使用寿命。

结合第一方面，所述等效累计损伤、参考工作损伤以及所述剩余使用寿命之间的关系为：

其中，L_u表示所述剩余使用寿命，AD_h表示所述等效累计损伤，AD_r表示所述极限工作损伤，lifetime表示在所述目标设备的设计寿命。

结合第一方面，所述方法还包括：

获取多种工况类型各自对应的剩余使用寿命；

根据所述工况类型各自对应的剩余使用寿命，从中确定出最短的剩余使用寿命；

将所述最短的剩余使用寿命作为所述目标设备实际的可用寿命。

结合第一方面，所述将所述历史工作损伤换算为所述目标设备在参考工况下的等效累计损伤，包括：

获取所述历史工况与所述参考工况之间的加速因子；

根据所述加速因子，将所述历史工作损伤换算为参考工况下的等效累计损伤。

结合第一方面，若所述历史工况为历史工作温度，所述参考工况为参考工作温度，则所述历史工况、所述参考工况以及所述加速因子之间的关系满足：

其中，AF表示所述加速因子，T_max f表示所述历史工作温度，T_max l表示所述参考工作温度，E_A表示活化能，k表示玻尔兹曼常数。

结合第一方面，若所述历史工况为历史工作湿度，所述参考工况为参考工作湿度，则所述历史工况、所述参考工况以及所述加速因子之间的关系满足：