[发明专利]相控阵天线测试平台、设计方法和计算机可读存储介质

权利要求书

1.一种相控阵天线测试平台设计方法，用于测试相控阵天线，所述相控阵天线包括波束控制器和TR组件，其特征在于，所述TR组件包括第一控制接口和第二控制接口，所述第一控制接口通讯连接所述波束控制器，所述第二控制接口通讯连接控制板，所述控制板可通过所述第二控制接口读取所述TR组件的参数，所述相控阵天线测试平台设计方法包括如下步骤：

构建关于所述相控阵天线的相控阵天线数字模型；

依据所述相控阵天线数字模型，生成一组相控阵天线目标矩阵；

生成一组与所述相控阵天线目标矩阵相对应的相控阵天线状态矩阵；

其中，所述相控阵天线状态矩阵的参数可通过所述第二控制接口写入所述TR组件，并依据新的TR组件更新相控阵天线数字模型的参数，及所述控制板可通过所述第二控制接口将所述相控阵天线数字模型的调整后的参数写入所述TR组件。

2.如权利要求1所述的相控阵天线测试平台设计方法，其特征在于，所述控制板可将所述TR组件的参数通过阵面流形反向映射生成相控阵天线状态矩阵。

3.如权利要求2所述的相控阵天线测试平台设计方法，其特征在于，所述相控阵天线数字模型的参数包括工作频率、波束扫描参数、阵面流形数据、校准数据和工作状态。

4.如权利要求3所述的相控阵天线测试平台设计方法，其特征在于，所述相控阵天线目标矩阵的每组数据均包括有每个TR通道的幅度信息和相位信息。

5.如权利要求4所述的相控阵天线测试平台设计方法，其特征在于，所述相控阵天线测试平台设计方法，进一步包括：

通过所述波束控制器对所述相控阵天线进行控制；

将所述控阵天线目标矩阵和反向映射生成的相控阵天线状态矩阵进行比对，获得一组差异数据；

依据所述差异数据反馈所述波束控制器的计算错误。

6.如权利要求3所述的相控阵天线测试平台设计方法，其特征在于，所述相控阵天线测试平台设计方法，进一步包括：

将所述校准数据作为所述相控阵天线数字模型的输入参数，以获得所述相控阵天线数字模型关于所述校准数据的加载信息，及通过所述控制板将所述校准数据写入所述波束控制器，以获得所述波束控制器关于所述校准数据的加载信息；

将所述相控阵天线数字模型关于所述校准数据的加载信息和所述波束控制器关于所述校准数据的加载信息进行比对，以验证所述波束控制器关于所述校准数据的加载是否正确。

7.如权利要求3所述的相控阵天线测试平台设计方法，其特征在于，所述相控阵天线测试平台设计方法，进一步包括：

将所述校准数据作为所述相控阵天线数字模型的输入参数；

通过控制板直接控制所述TR组件对所述相控阵天线进行校准处理。

8.一种相控阵天线测试平台，用于测试相控阵天线，所述相控阵天线包括波束控制器和TR组件，其特征在于，所述TR组件包括第一控制接口和第二控制接口，所述第一控制接口通讯连接所述波束控制器，所述第二控制接口通讯连接控制板，所述控制板可通过所述第二控制接口读取所述TR组件的参数，所述相控阵天线测试平台包括：

构建单元，被配置为用于构建关于所述相控阵天线的相控阵天线数字模型；

第一生成单元，被配置为用于依据所述相控阵天线数字模型，生成一组相控阵天线目标矩阵；

第二生成单元，被配置为用于生成一组与所述相控阵天线目标矩阵相对应的相控阵天线状态矩阵；

其中，所述相控阵天线状态矩阵的参数可通过所述第二控制接口写入所述TR组件，并依据新的TR组件更新相控阵天线数字模型的参数，及所述控制板可通过所述第二控制接口将所述相控阵天线数字模型的调整后的参数写入所述TR组件。

9.一种计算机可读存储介质，用于存储计算机程序，其特征在于：所述程序被处理器执行时实现如权利要求1～7中任一项所述的相控阵天线测试平台设计方法。