[发明专利]一种获得极片电化学活性面积的方法

权利要求书

1.一种获得极片电化学活性面积的方法，其特征在于，所述方法包括如下步骤：

(1)测试单个活性颗粒的双电层电容值Q₁；

(2)测试极片的双电层电容值Q₂，得到极片的电化学活性面积S_E＝[(Q₂/2)/Q₁]*S_p，其中，S_p为步骤(1)所述单个活性颗粒的表面积，所述极片包括步骤(1)所述活性颗粒。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，步骤(1)所述测试单个活性颗粒的双电层电容值Q₁包括：采用单颗粒微电极系统辅助测试单个活性颗粒的交流阻抗，将得到的交流阻抗测试结果进行等效电路拟合，得到所述单个活性颗粒的双电层电容值Q₁。

3.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，步骤(1)所述单个活性颗粒通过单颗粒微电极系统辅助挑选。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，挑选得到的步骤(1)所述单个活性颗粒的球形度≥0.8。

5.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，挑选得到的步骤(1)所述单个活性颗粒的直径d≈D50＝1nm-100μm。

6.根据权利要求1-5任一项所述的方法，其特征在于，步骤(1)所述单个活性颗粒的荷电态为非满嵌态且非完全脱锂态，且与步骤(2)所述极片的荷电态相同。

7.根据权利要求1-6任一项所述的方法，其特征在于，步骤(2)所述测试极片的双电层电容值Q₂包括：将极片制备成对称电池，对所述对称电池进行交流阻抗的测试，然后对得到的交流阻抗测试结果进行等效电路拟合，得到所述极片的双电层电容值Q₂。

8.根据权利要求5-7任一项所述的方法，其特征在于，步骤(2)所述S_p＝πd²。

9.根据权利要求1-8任一项所述的方法，其特征在于，步骤(2)所述极片的活性材料与步骤(1)所述单个活性颗粒的种类相同。

10.根据权利要求1-9任一项所述的方法，其特征在于，所述方法包括如下步骤：

(1)采用单颗粒微电极系统辅助挑选，得到球形度≥0.8，直径d≈D50的单个活性颗粒，然后采用单颗粒微电极系统辅助测试单个活性颗粒在非满嵌态且非完全脱锂态下的交流阻抗，将得到的交流阻抗测试结果进行等效电路拟合，得到所述单个活性颗粒的双电层电容值Q₁；

(2)将活性材料与步骤(1)所述活性颗粒种类相同的极片制备成对称电池，然后对所述对称电池进行极片在非满嵌态且非完全脱锂态下的交流阻抗的测试，再对得到的交流阻抗测试结果进行等效电路拟合，得到所述极片的双电层电容值Q₂；

其中，步骤(1)和步骤(2)在交流阻抗测试时，极片的荷电态与步骤(1)所述单个活性颗粒的荷电态相同；

(3)根据步骤(1)所述Q₁、d和步骤(2)所述Q₂，得到所述极片的电化学活性面积S_E＝[(Q₂/2)/Q₁]*S_p，其中，S_p＝πd²，为步骤(1)所述单个活性颗粒的表面积。