[发明专利]一种落球试验设备、落球试验方法和电子设备

权利要求书

1.一种落球试验设备，其特征在于，包括：

载台，用于设置待测样品；

位置调整机构，用于在接收到跌落指令后，释放落球，以使所述落球向所述待测样品跌落；

控制模块，用于向所述位置调整机构发送所述跌落指令，并在发送所述跌落指令后，记录落球跌落数据，所述落球跌落数据包括所述落球向所述待测样品跌落过程和落球试验结果的图像和/或视频。

2.根据权利要求1所述的设备，其特征在于，所述控制模块还用于向所述载台发射定位光束，并获取所述定位光束在所述载台的位置数据，根据所述定位光束在所述载台的位置数据，控制所述位置调整机构调整所述落球的跌落位置。

3.根据权利要求2所述的设备，其特征在于，所述控制模块包括：垂直摄像单元、水平摄像单元和控制单元；其中，

所述垂直摄像单元，用于向所述载台发射定位光束，并获取所述定位光束在所述载台的位置数据；

所述水平摄像单元，用于获取所述落球跌落数据；

所述控制单元，用于根据所述定位光束在所述载台的位置数据，控制所述位置调整机构调整所述落球的跌落位置，和用于向所述位置调整机构发送所述跌落指令，并在发送所述跌落指令后，使能所述水平摄像单元，以记录所述水平摄像单元获取的所述落球跌落数据。

4.根据权利要求3所述的设备，其特征在于，所述位置调整结构包括垂直导轨、水平导轨和落球吸附机构，所述垂直导轨垂直于所述载台表面设置，所述水平导轨与所述垂直导轨远离所述载台一端滑动连接，所述落球吸附机构与所述水平导轨朝向所述载台一侧滑动连接；

所述控制单元还用于获取测试参数，根据所述测试参数调整所述位置调整机构的位置姿态；

所述位置调整机构的位置姿态包括所述垂直摄像单元向所述载台发射的定位光束的照射位置、所述水平导轨在所述垂直导轨上的位置和所述落球吸附机构在所述水平导轨上的位置中的至少一项；

所述测试参数包括落球的跌落位置、落球的跌落位置排布规则和落球的跌落高度中的至少一项。

5.根据权利要求4所述的设备，其特征在于，所述测试参数包括多个落球的跌落位置、落球的跌落位置排布规则和落球的跌落高度；

所述控制单元根据获取测试参数，根据所述测试参数调整所述位置调整机构的位置姿态，向所述位置调整机构发送所述跌落指令，并在发送所述跌落指令后，记录落球跌落数据具体用于：

获取所述测试参数，按照所述落球的跌落位置排布规则，依次对多个落球的跌落位置进行落球试验；

所述落球试验包括：根据所述测试参数调整所述位置调整机构的位置姿态，向所述位置调整机构发送所述跌落指令，并在发送所述跌落指令后，记录落球跌落数据。

6.根据权利要求2～5任一项所述的设备，其特征在于，所述位置调整机构还用于在落球的跌落位置调整到位后，向所述控制模块返回调整完成指令；

所述控制模块向所述位置调整机构发送所述跌落指令具体用于：

在接收到所述调整完成指令后，向所述位置调整机构发送所述跌落指令。

7.根据权利要求4所述的设备，其特征在于，所述垂直摄像装置包括第一电荷耦合元件和激光发射元件；

所述水平摄像装置包括设置于所述垂直导轨上的第二电荷耦合元件；

所述落球吸附机构包括电磁铁。

8.根据权利要求1～5任一项所述的设备，其特征在于，所述载台表面用于设置与待测样品对应的固定治具，所述固定治具用于设置与所述固定治具对应的所述待测样品。

9.一种落球试验方法，其特征在于，基于落球试验设备实现，所述落球试验设备包括载台、位置调整机构和控制模块，所述载台用于设置待测样品；

所述落球试验方法包括：

向所述位置调整机构发送所述跌落指令；

在发送所述跌落指令后，记录落球跌落数据，所述落球跌落数据包括所述落球向所述待测样品跌落过程和落球试验结果的图像和/或视频。

10.一种电子设备，其特征在于，包括：处理器和存储器；

其中，所述存储器与所述处理器连接，所述存储器用于存储计算机程序；

所述处理器，用于通过运行所述存储器中存储的计算机程序，实现如权利要求9所述的落球试验方法。