[发明专利]一种校验和计算顺序确定方法、装置、设备及存储介质

说明书

本发明实施例提供了一种校验和计算顺序确定方法、装置、设备及存储介质，校验和计算顺序确定方法包括：根据待烧录器件的烧录空间大小，创建模拟内存空间，获取待烧录地图，并在模拟内存空间中创建与待烧录地图对应的映射表，从而在模拟内存空间中创建关于校验和的地址、校正数据、用于计算校验和的空间起始地址以及用于计算校验和的空间结束地址的映射。只需对映射表进行遍历，确认是否遍历到校验和的空间初始化值；若未遍历到校验和的空间初始化值，则基于映射表对应的值就能够确定出关于校验和的计算顺序，能够对任意存在包含关系的校验和计算进行排序，可以更加灵活地对拟烧录的校正参数进行校验。

技术领域

本发明涉及数据校验技术领域，尤其涉及一种校验和计算顺序确定方法、装置、设备及存储介质。

背景技术

基于现有摄像头模组的生产工艺以及生产硬件，即便是相同型号的摄像头模组，它们之间的性能可能差距较大，因此，一般需要预先在终端中烧录一些校正参数来调试补偿摄像头的不足，使相同型号的摄像头模组性能基本一致。

如图1所示，为了确保生成的校正参数和烧录进终端里的参数一致，通常会针对每一部分的校正参数设置一个校验和(即CheckSum)，通常的校验和的计算为该部分所有数据的和再除以255取余数。现有校正参数一般会有多个部分的校正参数，所以设置有多个校验和，最后会将所有部分的校正参数和对应的校验和依次汇总，来得到整个校正数据的总校验和。

目前行业内的烧录软件已经实现可配置化，传统的校验和排序方法是自上而下分别计算每个部分的校验和,然后再计算最终的总校验和。这就要求校验和的地址位必须大于待计算校验和的数据地址位，无法针对任意有包含关系的校验和计算做自动识别排序。

发明内容

本发明实施例通过提供一种校验和计算顺序确定方法、装置、设备及存储介质，解决了现有技术无法对任意存在包含关系的校验和计算进行排序的技术问题。

第一方面，本发明通过本发明的一实施例，提供了一种校验和计算顺序确定方法，所述方法包括：根据待烧录器件的烧录空间大小，创建模拟内存空间；在模拟内存空间中获取待烧录地图，并在所述模拟内存空间中创建与所述待烧录地图对应的映射表；对所述映射表中的校正数据和校验和进行遍历，确认是否遍历到校验和的初始化值；根据遍历到校验和的初始化值确定出关于所述校验和的计算顺序。

作为一种可选的实施方式，所述在模拟内存空间中获取待烧录地图，并在所述模拟内存空间中创建与所述待烧录地图对应的映射表，包括：根据所述待烧录器件中的校正数据以及对应的校验和，在所述模拟内存空间中获取校正数据以及对应的校验和对应的所述待烧录地图；在所述模拟内存空间中创建关于校验和的地址、校正数据和校验和、用于计算校验和的空间起始地址以及用于计算校验和的空间结束地址的映射，以得到所述映射表。

作为一种可选的实施方式，对所述映射表中的校正数据和校验和进行遍历之前，还包括：对所述映射表中的所述校正数据对应的值进行初始化值，并对所述校验和(CheckSum)对应的值初始化值，所述校正数据初始化值与所述校验和(CheckSum)初始化值不同。

作为一种可选的实施方式，对所述映射表中的校正数据和校验和进行遍历之前，还包括：将所述映射表中校验和位置设置为标志位，并给所述标志位设定初始值。

作为一种可选的实施方式，根据遍历到校验和的初始化值确定出关于所述校验和的计算顺序，包括：在遍历到所述校验和初始化值时，计算所述映射表中的和值，所述和值为所述映射表中空间起始地址与空间结束地址对应校正数据值的和；若所述和值等于校正数据初始化值时，则更新所述标志位的当前值；若所述和值不等于校正数据初始化值时，则重新执行所述对所述映射表进行遍历的步骤。

作为一种可选的实施方式，更新所述标志位的当前值，包括：将标志位的当前值进行逐次增加的操作，并将更新后的标志位值记录在映射表中，重新执行遍历步骤。