[发明专利]D-PHY信号分析方法及相关装置

说明书

本申请公开了一种D‑PHY信号分析方法及相关装置，包括：通过获取目标D‑PHY信号，并从D‑PHY信号中获取LP信号和HS信号，对LP信号进行电压测量和解码获取LP信号中的LP协议数据和波形数据，根据LP协议数据和波形数据对LP信号进行第一预设条件下的监控，在满足第一预设条件时生成第一封装数据，对HS信号进行解码获取解码结果，在解码结果满足第二预设条件时，生成第二封装数据，根据第一封装数据和第二封装数据生成目标D‑PHY信号波形数据并发送至目标主机；通过实时分析D‑PHY信号，解析D‑PHY协议并解码显示图像，实现了在满足触发条件时捕获并显示对应D‑PHY信号波形数据的技术效果。

技术领域

本申请涉及工业领域，尤其是涉及一种D-PHY信号分析方法及相关装置。

背景技术

当前比较常用的MIPI D-PHY协议分析产品都是国外大型高端示波器，比较笨重且操作起来不太方便，有些只能观测到某个时间点的D-PHY信号波形，有些触发设置不灵活，无法准确捕获需要的问题波形数据，有些无法实时解码显示D-PHY图像数据，这对于产线上定位分析摄像头Sensor D-PHY参数配置异常问题、快速发现ISP芯片中D-PHY输出协议设计不合理的地方、车载解串芯片分析多路摄像头信号合成D-PHY输出后图像异常等情况带来了很大的不便，不利于产线快速定位解决问题，也会让研发人员调试分析问题的效率变得不高。

因此，如何实现精确定位问题点，完整捕获D-PHY的信号波形成为了一个亟待解决的技术问题。

发明内容

为了实现精确定位问题点，完整捕获D-PHY的信号波形，本申请提供一种D-PHY信号分析方法及相关装置。

第一方面，本申请提供的一种D-PHY信号分析方法采用如下的技术方案：

一种D-PHY信号分析方法，包括：

获取目标D-PHY信号，从所述D-PHY信号中获取LP信号和HS信号；

对所述LP信号进行电压测量和解码处理以获取所述LP信号中的LP协议数据和波形时序；

在所述LP协议数据和所述LP波形时序满足第一预设条件时，根据所述LP协议数据和所述波形时序生成第一封装数据；

对所述HS信号进行解码处理以获取HS信号解码处理结果；

在所述HS信号解码处理结果满足第二预设条件时，根据所述HS信号解码处理结果生成第二封装数据；

根据所述第一封装数据和所述第二封装数据生成目标D-PHY波形数据并将所述目标D-PHY波形数据发送至目标主机。

可选的，所述在所述LP协议数据和所述LP波形时序满足第一预设条件时，根据所述LP协议数据和所述波形时序生成第一封装数据的步骤，包括：

在所述LP协议数据和所述LP波形时序满足第一预设条件时，对当前所述LP信号中的原始数据进行封装以作为第一封装数据。

可选的，所述对所述HS信号进行解码处理以获取HS信号解码处理结果的步骤，包括：

获取所述HS信号对应的数据编码定义；

根据所述数据编码定义获取所述目标D-PHY的同步字、包头以及payload数据；

在满足预设校验条件时，将所述目标D-PHY的同步字、包头以及payload数据作为HS信号解码处理结果。

可选的，所述在满足预设校验条件时，将所述目标D-PHY的同步字、包头以及payload数据作为HS信号解码处理结果的步骤，包括：

获取所述目标D-PHY的规范定义；

根据所述规范定义对所述同步字、包头以及payload数据进行ECC和CRC校验；

在通过所述ECC和CRC校验之后，将所述目标D-PHY的同步字、包头以及payload数据作为HS信号解码处理结果。