[发明专利]一种可见红光通道地表反射率估算方法和装置

权利要求书

1.一种可见红光通道地表反射率估算方法，其特征在于，包括：

获取待处理遥感图像；

基于植被指数确定所述待处理遥感图像中的亮像元和暗像元；

针对所述亮像元，构建红光波段地表反射率与1.64μm波段表观反射率的二次函数模型，根据所述二次函数模型计算得到红光波段地表反射率；

针对所述暗像元，构建红光波段地表反射率与1.64μm波段表观反射率的一次函数模型，根据所述一次函数模型计算得到红光波段地表反射率。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于植被指数确定所述待处理遥感图像中的亮像元和暗像元，包括：

获取包括各通道反射率的历史遥感图像；

对所述历史遥感图像进行计算分析，得到对应各像元的归一化植被指数；

根据所述归一化植被指数，计算得到在1.64μm波段处的去气溶胶污染植被指数；

针对每个像元，均执行：

判断该像元的去气溶胶污染植被指数是否位于预设去气溶胶污染植被指数范围内；

若是，则确定该像元为亮像元；

若否，则确定该像元为暗像元。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述预设去气溶胶污染植被指数范围的取值区间为(0，0.25]。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述针对所述亮像元，构建红光波段地表反射率与1.64μm波段表观反射率的二次函数模型，根据所述二次函数模型计算得到红光波段地表反射率，包括：

所述二次函数模型为：

其中，R_Red用于表征所述红光波段地表反射率，R_1.64μm用于表征所述1.64μm波段表观反射率，C用于表征二次拟合系数，D用于表征一次拟合系数，E用于表征常数项拟合系数；其中，C、D和E均与在1.64μm波段处的去气溶胶污染植被指数相关。

5.根据权利要求1至4中任一所述的方法，其特征在于，所述针对所述暗像元，构建红光波段地表反射率与1.64μm波段表观反射率的一次函数模型，根据所述一次函数模型计算得到红光波段地表反射率，包括：

所述一次函数模型为：

R_Red＝SlopeR_1.64μm+Intercept

Slope＝aNDVI+b

NDVI＝(R_0.87μm-R_Red)/(R_0.87μm+R_Red)

其中，R_Red用于表征所述红光波段地表反射率，R_1.64μm用于表征所述1.64μm波段表观反射率，Slope用于表征斜率，Intercept用于表征截距，NDVI用于表征该暗像元的归一化植被指数，R_0.87μm用于表征0.87μm波段表观反射率；其中，Slope和Intercept均与所述归一化植被指数相关，a、b、d、e和f均用于表征拟合系数，c用于表征0.325NDVI≤0.65时的截距值。

6.一种可见红光通道地表反射率估算装置，其特征在于，包括：

获取模块，用于获取待处理遥感图像；

亮暗地表确定模块，用于基于植被指数确定所述待处理遥感图像中的亮像元和暗像元；

亮地表估算模块，用于针对所述亮像元，构建红光波段地表反射率与1.64μm波段表观反射率的二次函数模型，根据所述二次函数模型计算得到红光波段地表反射率；

暗地表估算模块，用于针对所述暗像元，构建红光波段地表反射率与1.64μm波段表观反射率的一次函数模型，根据所述一次函数模型计算得到红光波段地表反射率。