[发明专利]内存插槽测试系统

权利要求书

1.一种内存插槽测试系统，其特征在于，包括：

转接卡模块，所述转接卡模块的第一端插接于待测试插槽模块，所述转接卡模块的第二端连接分析模块，用于在内存设备接入测试数据时，接收待测试插槽模块输出的测试输出信息，并向所述分析模块发送所述测试输出信息，所述内存设备插接于所述转接卡模块；

待测试插槽模块，所述待测试插槽模块用于在所述内存设备接入测试数据时，输出针对所述内存设备在测试过程中的测试输出信息；

电源检测模块，所述电源检测模块的第一端与所述分析模块连接，所述电源检测模块的第二端与所述内存设备连接，用于在所述内存设备接入测试数据时，获取所述内存设备的电源信息，并向所述分析模块发送所述电源信息；

分析模块，所述分析模块用于接收所述转接卡模块的测试输出信息以及所述电源检测模块的电源信息，并基于所述测试输出信息以及所述电源信息，确定所述待测试插槽模块的测试结果。

2.根据权利要求1所述的内存插槽测试系统，其特征在于，还包括：总线模块；

所述总线模块的第一端连接所述内存设备，所述总线模块的第二端连接所述待测试插槽模块，用于将所述内存设备的温度信息传输至所述待测试插槽模块。

3.根据权利要求2所述的内存插槽测试系统，其特征在于，所述将所述内存设备的温度信息传输至所述待测试插槽模块，包括：

所述总线模块基于双向二线制同步串行总线，将所述内存设备的温度信息传输至所述待测试插槽模块。

4.根据权利要求2所述的内存插槽测试系统，其特征在于，所述转接卡模块还用于获取所述待测试插槽模块的温度信息，并向所述分析模块发送所述温度信息。

5.根据权利要求4所述的内存插槽测试系统，其特征在于，所述向所述分析模块发送所述温度信息之后，还包括：

所述分析模块将所述温度信息与预设温度阈值进行比对，确定所述待测试插槽模块的运行状态分析结果。

6.根据权利要求1所述的内存插槽测试系统，其特征在于，还包括：数据链路模块；

所述数据链路模块的第一端连接所述内存设备，所述数据链路模块的第二端连接所述待测试插槽模块，用于所述内存设备与所述待测试插槽模块之间数据的传输。

7.根据权利要求1所述的内存插槽测试系统，其特征在于，所述电源检测模块还用于为所述内存设备供电。

8.根据权利要求1所述的内存插槽测试系统，其特征在于，还包括：接口模块；

所述接口模块的第一端与所述分析模块连接，所述接口模块的第二端与存储设备连接，用于存储所述分析模块的测试结果、所述测试输出信息以及所述电源信息。

9.根据权利要求1所述的内存插槽测试系统，其特征在于，所述基于所述测试输出信息以及所述电源信息，确定所述待测试插槽模块的测试结果，包括：

基于所述电源信息，确定所述电源信息对应的待测试插槽模块的预期输出信息；

将所述预期输出信息与所述测试输出信息进行对比，确定所述待测试插槽模块的测试结果。

10.根据权利要求1-9任一项所述的内存插槽测试系统，其特征在于，所述测试输出信息包括电压信息、电流信息以及功率信息。