[发明专利]一种用于测定土壤中金属元素的样本处理方法及装置

说明书

本发明提供一种用于测定土壤中金属元素的样本处理方法及装置，涉及土壤检测技术领域。该用于测定土壤中金属元素的样本处理装置，包括底座，所述底座的固定连接有转动电机，所述转动电机的输出轴上固定连接有转盘，并且转盘位于底座的上方，所述转盘的上方设置有多个处理筒，并且处理筒通过支撑柱与转盘固定连接，所述处理筒的底部设置有下料管，所述支撑柱的圆周面上固定连接有挡块，所述支撑柱的圆周面上滑动连接有滑块。通过设置转动电机、转盘和多个处理筒，方便对不同位置的样本土壤进行分开处理，避免前一次残留的样本土壤进入下一次处理的样本土壤内，有利于提高样本土壤检测的准确性。

技术领域

本发明涉及土壤检测技术领域，具体为一种用于测定土壤中金属元素的样本处理方法及装置。

背景技术

土壤是指地球表面的一层疏松的物质，由各种颗粒状矿物质、有机物质、水分、空气、微生物等组成，能生长植物，土壤因农药、肥料、生长素的大量施用及工业“三废”的污染，土壤重金属含量超标较严重，因此，需要定期对土壤重金属含量进行检测。

申请人在申请本发明时，经过检索，发现中国专利公开了“一种用于测定土壤中金属元素的样本处理方法及装置”，其申请号为“CN202010978009.5”，该专利主要通过干燥装置、破碎筛分装置和加样装置对采样的土壤进行干燥、粉碎和筛分处理，最后将处理后的土壤加入试管内进行消解，但是该专利需要对不同位置的样本土壤进行处理时，前一次处理的样本土壤会有部分残留在样本处理装置内，因此，在进行下一次样本土壤处理时，前一次残留的样本土壤会进入下一次处理的样本土壤内，并造成检测数据不准确。

发明内容

(一)解决的技术问题

针对现有技术的不足，本发明提供了一种用于测定土壤中金属元素的样本处理方法及装置，解决了对不同位置的样本土壤进行处理时，前一次处理的样本土壤会有部分残留在样本处理装置内，因此，在进行下一次样本土壤处理时，前一次残留的样本土壤会进入下一次处理的样本土壤内，并造成检测数据不准确的问题。

(二)技术方案

为实现以上目的，本发明通过以下技术方案予以实现：一种用于测定土壤中金属元素的样本处理装置，包括底座，所述底座的固定连接有转动电机，所述转动电机的输出轴上固定连接有转盘，并且转盘位于底座的上方，所述转盘的上方设置有多个处理筒，并且处理筒通过支撑柱与转盘固定连接，所述处理筒的底部设置有下料管，所述支撑柱的圆周面上固定连接有挡块，所述支撑柱的圆周面上滑动连接有滑块，并且滑块位于挡块的上方，所述滑块的侧壁上固定连接有连接杆，所述连接杆远离滑块的一端固定连接有限位环，所述连接杆的圆周面上套设有弹簧，并且弹簧位于滑块的上方，所述转盘的顶部固定连接有放置座，并且放置座位于下料管的下方，所述放置座的内部放置有试管；

所述处理筒的内部设置有筛板，所述筛板的侧壁上固定连接有卡杆，所述处理筒的内壁上设置有卡槽，并且卡杆位于卡槽的内部，所述卡杆上固定连接有定位支架，所述定位支架的内部转动连接有转轴，所述转轴的顶部固定连接有齿轮，所述转轴的圆周面上固定连接有粉碎刀片；

所述底座的顶部固定连接有处理罩，所述处理罩的顶部固定连接有电动缸，所述电动缸的活动端固定连接有固定板，所述固定板的底部固定连接有粉碎电机，所述粉碎电机的输出轴上固定连接有卡块，并且卡块位于处理罩的内部，所述卡块的底部设置有齿孔，所述处理罩的内顶部设置有加热灯。

优选的，所述转盘的底部固定连接有多个轮子，并且轮子与处理筒对应设置。

优选的，每个所述处理筒的底部均设置有两个支撑柱，并且对称设置在下料管的两侧。

优选的，所述限位环位于下料管的下方，所述限位环与试管配套使用，所述采用聚四氟乙烯制成。

优选的，每个所述处理筒的内部均设置有四个卡槽和四个卡杆，每个所述处理筒的内部均设置有一个定位支架，并且定位支架的俯面形状为十字形。