[发明专利]地层状态变化信息的确定方法、装置、设备、介质及系统在审
申请号: | 202310020385.7 | 申请日: | 2023-01-06 |
公开(公告)号: | CN116025420A | 公开(公告)日: | 2023-04-28 |
发明(设计)人: | 孙九春;王悦;王海涛 | 申请(专利权)人: | 腾达建设集团股份有限公司 |
主分类号: | E21F17/18 | 分类号: | E21F17/18;E21F17/00;E21D9/00 |
代理公司: | 北京品源专利代理有限公司 11332 | 代理人: | 郭德霞 |
地址: | 318050 浙*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 地层 状态 变化 信息 确定 方法 装置 设备 介质 系统 | ||
1.一种地层状态变化信息的确定方法,其特征在于,所述方法包括:
获取待探测区域在掘进前的第一地层信息以及所述待探测区域在掘进后的第二地层信息,其中,所述第一地层信息包括第一浅层地层信息和第一深层地层信息,所述第二地层信息包括第二浅层地层信息和第二深层地层信息,所述第一浅层地层信息和所述第二浅层地层信息采用第一探测方式探测得到,所述第一深层地层信息和所述第二深层地层信息采用第二探测方式探测得到;
基于所述第一地层信息和所述第二地层信息,确定所述待探测区域的地层状态变化信息。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述第一浅层地层信息和所述第二浅层地层信息与第一探测深度范围对应,所述第一深层地层信息和所述第二深层地层信息与第二探测深度范围对应,所述第二探测深度范围内的探测深度值大于所述第一探测深度范围内的探测深度值。
3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述获取待探测区域在掘进前的第一地层信息以及所述待探测区域在掘进后的第二地层信息,包括:
在对待探测区域掘进之前,采用第一探测方式探测所述待探测区域在第一探测深度范围内的第一浅层地层信息,并采用第二探测方式探测所述待探测区域在第二探测深度范围内的第一深层地层信息,以得到所述待探测区域的第一地层信息;
在对待探测区域掘进之后,采用第一探测方式探测所述待探测区域在第一探测深度范围内的第二浅层地层信息,并采用第二探测方式探测所述待探测区域在第二探测深度范围内的第二深层地层信息,以得到所述待探测区域的第二地层信息。
4.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述地层状态变化信息包括第一地层状态变化信息和第二地层状态变化信息,所述基于所述第一地层信息和所述第二地层信息,确定所述待探测区域的地层状态变化信息,包括:
基于所述第一浅层地层信息和所述第二浅层地层信息,确定所述待探测区域在第一探测深度范围内的第一地层状态变化信息;
基于所述第一深层地层信息和所述第二深层地层信息,确定所述待探测区域在第二探测深度范围内的第二地层状态变化信息。
5.根据权利要求1-4任一所述的方法,其特征在于,在所述基于所述第一地层信息和所述第二地层信息,确定所述待探测区域的地层状态变化信息之后,还包括:
根据所述地层状态变化信息调整掘进设备的施工参数。
6.一种地层状态变化信息的确定装置,其特征在于,包括:
获取模块,用于获取待探测区域在掘进前的第一地层信息以及所述待探测区域在掘进后的第二地层信息,其中,所述第一地层信息包括第一浅层地层信息和第一深层地层信息,所述第二地层信息包括第二浅层地层信息和第二深层地层信息,所述第一浅层地层信息和所述第二浅层地层信息采用第一探测方式探测得到,所述第一深层地层信息和所述第二深层地层信息采用第二探测方式探测得到;
确定模块,用于基于所述第一地层信息和所述第二地层信息,确定所述待探测区域的地层状态变化信息。
7.一种电子设备,其特征在于,所述电子设备包括:
至少一个处理器;以及
与所述至少一个处理器通信连接的存储装置;其中,
所述存储装置存储有可被所述至少一个处理器执行的计算机程序,所述计算机程序被所述至少一个处理器执行,以使所述至少一个处理器能够执行权利要求1-5中任一项所述的地层状态变化信息的确定方法。
8.一种计算机可读存储介质,其特征在于,所述计算机可读存储介质存储有计算机指令,所述计算机指令用于使处理器执行时实现权利要求1-5中任一项所述的地层状态变化信息的确定方法。
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