[发明专利]指标的校验方法及装置

说明书

一种自动集成校验的指标优化方法及装置，其中，方法包括：针对当前试验任务，获取包括多个基础指标的第一基础指标集合，多个基础指标通过对多个基础指标列表中的基础指标进行汇总得到；根据第一基础指标集合中的多个基础指标的优先级对多个基础指标进行优化筛选，得到第二基础指标集合，第二基础指标集合包含多个基础指标中的至少部分基础指标；确定第一基础指标集合和第二基础指标集合包含的基础指标数量的第一数量差值；将第一数量差值与历史数据中根据多次同类试验确定出的第一数量差值的平均值进行对比；以及响应于第一数量差值小于平均值，且两者相差大于预设阈值，发送未满足指标优化筛选标准的提示信息。

技术领域

本发明涉及数据处理技术领域，尤其涉及一种自动集成校验的指标优化方法及装置、电子设备、非瞬时计算机可读存储介质以及计算机程序产品。

背景技术

在试验需求构建完成到能力需求及基础指标生成完毕后，聚集了大量的基础指标数据，需要针对这些基础指标进行大量的数据查询、以及数据关联操作，分析和筛选出需求的指标，从而达到基础指标集成和优化的目的。能力需求基础指标的优化一项十分重要的工作，校验了需求生成、差距分析、指标集成过程中的问题，为最后能力需求清单生成提供保障。

能力需求基础指标集成完毕后，基础指标数据量大且杂，基础指标涉及的能力方向范围广、能力要求强度不同。工作人员需要对不同领域的基础指标进行优化筛选和统一分析，确认指标是否冗余、缺失以及指标整体是否能够满足需求。在此过程中，人工方式的筛选和分析工作量大、速度慢，主观影响较大，可能会出现判断上的失误，且不同项目的基础指标需要重复确，降低人员的工作积极性。

发明内容

本公开提供了一种自动集成校验的指标优化方法及装置、电子设备、计算机可读存储介质和计算机程序产品。

根据本公开的一方面，提供了一种自动集成校验的指标优化方法，包括：针对当前试验任务，获取包括多个基础指标的第一基础指标集合，多个基础指标通过对多个基础指标列表中的基础指标进行汇总得到；根据第一基础指标集合中的多个基础指标的优先级对多个基础指标进行优化筛选，得到第二基础指标集合，第二基础指标集合包含多个基础指标中的至少部分基础指标；确定第一基础指标集合和第二基础指标集合包含的基础指标数量的第一数量差值；将第一数量差值与历史数据中根据多次同类试验确定出的第一数量差值的平均值进行对比；以及响应于第一数量差值小于平均值，且两者相差大于预设阈值，发送未满足指标优化筛选标准的提示信息。

根据本公开的另一方面，提供了一种自动集成校验的指标优化装置，包括：获取单元，配置成针对当前试验任务，获取包括多个基础指标的第一基础指标集合，多个基础指标通过对多个基础指标列表中的基础指标进行汇总得到；优化单元，配置成根据第一基础指标集合中的多个基础指标的优先级对多个基础指标进行优化筛选，得到第二基础指标集合，第二基础指标集合包含多个基础指标中的至少部分基础指标；确定单元，配置成确定第一基础指标集合和第二基础指标集合包含的基础指标数量的第一数量差值；对比单元，配置成将第一数量差值与历史数据中根据多次同类试验确定出的第一数量差值的平均值进行对比；以及发送单元，配置成响应于第一数量差值小于平均值，且两者相差大于预设阈值，发送未满足指标优化筛选标准的提示信息。

根据本公开的又一方面，提供了一种电子设备，包括：至少一个处理器；以及与至少一个处理器通信连接的存储器；其中存储器存储有计算机程序，计算机程序在被至少一个处理器执行时实现上述方法。

根据本公开的又一方面，提供了一种存储有计算机程序的非瞬时计算机可读存储介质，其中，计算机程序在被处理器执行时实现上述方法。

根据本公开的再一方面，提供了一种计算机程序产品，包括计算机程序，其中，计算机程序在被处理器执行时实现上述方法。