[实用新型]一种成品釉质量检测装置

说明书

本实用新型公开了一种成品釉质量检测装置，包括暗箱，所述暗箱的一侧设置有灯箱，所述灯箱的内部设置有打样灯，所述打样灯上设置有位于不同平面上的灯组，所述灯组由主灯、左副灯和右副灯组成，所述暗箱的内部远离所述打样灯的一侧设置有反射镜，所述反射镜上设置有多个折痕，所述反射镜和所述打样灯之间设置有挡光器。本实用新型公开的成品釉质量检测装置具有方便检测釉面质量，操作简单，检测直观的技术效果，通过设置的暗箱提供一个规避外界自然光影响的检测环境，通过设置的打样灯根据实际检测需求，提供不同入射角度的光源，且打样灯可以实时调节，在检测时便利性和准确性大大提高。

技术领域

本实用新型涉及釉质量检测领域，尤其涉及一种成品釉质量检测装置。

背景技术

在传统的标形学鉴定中，对陶瓷的釉质鉴定基本是依靠人眼，最多也只是利用放大镜对其进行观察。人们通过釉面的颜色、质地、光亮度、透明度以及釉下气泡的多少大小疏密等作出分析，并得出结论。这种鉴定结论往往因人而异、主观多于客观，未知多于已知。但釉面的光滑度，如是否存在气泡导致的凸起、凹陷，可以客观的观察到，也是鉴定釉面质量的主要检测内容。

但是传统的成品釉质量检测过于麻烦，不够直观；例如：釉面在制作时，因气泡导致的凹陷和凸起较小时，需要依靠放大镜等工具进行检测，检测手法复杂，耗时长，且检测需要一定的经验。

实用新型内容

本实用新型公开一种成品釉质量检测装置，旨在解决传统的成品釉质量检测过于麻烦，不够直观的技术问题。

为了实现上述目的，本实用新型采用了如下技术方案：

一种成品釉质量检测装置，包括暗箱，所述暗箱的一侧设置有灯箱，所述灯箱的内部设置有打样灯，所述打样灯上设置有位于不同平面上的灯组，所述灯组由主灯、左副灯和右副灯组成，所述暗箱的内部远离所述打样灯的一侧设置有反射镜，所述反射镜上设置有多个折痕，所述反射镜和所述打样灯之间设置有挡光器。

通过设置的暗箱提供一个规避外界自然光影响的检测环境，通过设置的打样灯根据实际检测需求，提供不同入射角度的光源，且打样灯可以实时调节，在检测时便利性和准确性大大提高，打样灯上设置的主灯、左副灯和右副灯单独控制，且灯组设置在不同平面，只需较小的调节幅度配合灯组的开和关即可得到合适的入射光线，通过设置的挡光器规避掉多余的光线，将投影聚集在需要检测的釉面位置，通过设置的反射镜放大投影，并将釉面投影反射到观察位置，反射镜能够转动和弯折调节，用于调整投影放大倍数和反射位置。

在一个优选的方案中，所述挡光器由主体架、设置于所述主体架上的多个挡光块以及设置于多个所述挡光块一侧的软条组成，多个所述挡光块的一侧外壁与所述软条的一侧外壁粘接，所述软条的顶部和底部与所述主体架连接，多个所述挡光块通过设置的串杆滑动连接，所述主体架的底部通过设置的横向调节块和纵向调节块与所述暗箱的内壁底部连接。

设置在反射镜和打样灯之间的挡光器用于遮挡掉打样灯投射出的多余光线，打样灯设置在固样器的一侧，且距离固样器的位置很近，多个挡光块用于调整软条，使软条可以贴合待检测物的表面，用于达到精准遮光的效果，挡光块调节后的位置能够固定，以此固定软条的位置，调整后的软条与待检测物表面各处的距离相同，产生间距均匀的狭缝。

在一个优选的方案中，所述打样灯由多个灯块组成，所述灯块上均设置有三个位于不同平面的灯面，所述灯组设置于三个所述灯面上，多个所述灯块之间活动连接，所述打样灯的顶部设置有用于控制所述打样灯转动和弯折控制把B。

通过设置的多个灯块组成打样灯，多个灯块之间活动连接，使得组成的打样灯能够弯折，如此便可以产生更多角度的入射光源，通过设置的控制把B转动和弯折打样灯，控制方法简单，且能够在检测时实时调控，适用于新手使用。