[实用新型]一种集成电路测试装置

权利要求书

1.一种集成电路测试装置，包括底座(1)，其特征在于：所述底座(1)的上表面固定连接有环形块(2)，所述环形块(2)开设有放置槽(16)，所述环形块(2)开设有两个水平相对的活动槽(7)，所述活动槽(7)的内部活动连接有两对齿轮条(3)，所述齿轮条(3)的一端固定连接有第一限制板(4)，所述环形块(2)的内部活动连接有环形齿轮(8)，所述活动槽(7)的内部开设有齿轮活动槽(9)，所述齿轮活动槽(9)的内部转动连接有第一齿轮(10)和第二齿轮(11)，所述第一齿轮(10)和第二齿轮(11)啮合连接，所述第二齿轮(11)与齿轮条(3)啮合连接，所述第一齿轮(10)与环形齿轮(8)啮合连接，所述环形块(2)上开设有橡胶底(12)，所述橡胶底(12)活动连接有转动柱(6)，所述转动柱(6)与环形齿轮(8)的外壁固定连接，所述环形块(2)螺旋连接有螺旋杆(18)，所述螺旋杆(18)的一端固定连接有第二限制板(5)，所述螺旋杆(18)的另一端固定连接有第二把手(19)。

2.根据权利要求1所述的一种集成电路测试装置，其特征在于，所述转动柱(6)的另一端固定连接有第一把手(17)。

3.根据权利要求1所述的一种集成电路测试装置，其特征在于，所述放置槽(16)的内壁固定连接有第一橡胶垫(14)。

4.根据权利要求1所述的一种集成电路测试装置，其特征在于，所述第一限制板(4)和第二限制板(5)均固定连接有第二橡胶垫(15)。

5.根据权利要求1所述的一种集成电路测试装置，其特征在于，所述齿轮条(3)的另一端均固定连接有防撞圆球(13)。

6.根据权利要求1所述的一种集成电路测试装置，其特征在于，所述放置槽(16)的内部固定连接有橡胶底(12)。