[实用新型]一种套环外径检测装置

说明书

本实用新型提供一种套环外径检测装置，包括平台、定位座、X向位移机构、光栅尺、弹簧夹头、测头和控制器，所述的定位座固定安装在平台上部左侧，其右部设有右侧开口的V型槽；所述的X向位移机构其固定部安装在平台上部右侧，在X向位移机构的移动部上安装有测头座，所述测头通过弹簧夹头安装在测头座上，且测头的轴线位于V型槽的对称平面上；所述的光栅尺其读数头安装在X向位移机构的移动部上，标尺光栅安装在X向位移机构的固定部一侧。本实用新型测量工步简单易控，直线电机移动的精度及重复定位精度受光栅尺的反馈控制，精度可提升至微米级，测量精度高，结构简单易维护，适合于生产车间的大环境，可应用于高精度套环的在线大批量检测。

技术领域

本实用新型涉及测量技术，具体是一种套环外径检测装置。

背景技术

套环是机械设备中常见的一种零件。随着技术的进步，高精度的套环也要求一环一检。套环的检测根据套环的应用场景不同，要求检测的部位及尺寸也各不相同，有的要求检测内径，有的要求检测外径，也有的要求内、外径均要进行检测。

现有的套环外径检测，最常见的仍是人工测量，测量工具包括卡尺、高度尺及百分表测量。其中，卡尺测量受人为因素的影响较大，读数误差也较大；高度尺的测量精度较差，测量时需要每次将套环立起，使套环轴线平行于基准平面，并将高度尺的测头移动到轴心上方，然后升降手动测头获得读数；百分表测量则与高度尺的测量类似，测量前首先使用标准件将百分表对零，然后将立起的套环滚动至测头下方，来回移动套环或者测头，当表针变化时，读取其中的最大值，即为被测件与标准件的尺寸差。由上述可见，卡尺检测、高度尺检测精度不足，百分表操作步骤繁琐，不适合大批量高精度套环的检测。

现有的套环测量，也有一些智能化设备，如三坐标仪等，这些设备大多造价高昂，环境要求较高，通常安装在专门的检测室内，无法适应大批量高精度套环的在线现场检测。

发明内容

针对背景技术中提出的问题，本实用新型的目的是提供一种套环外径检测装置，其通过高精度位移控制的传感器测头来测量套环的外径，检测精度高，测量工序简单，适用于大批量高精度套环的现场外径检测。

为实现上述目的，本实用新型采用以下技术方案：

一种套环外径检测装置，包括平台、定位座、X向位移机构、光栅尺、弹簧夹头、测头和控制器，所述的定位座固定安装在平台上部左侧，其右部设有右侧开口的V型槽，所述V型槽的两侧壁垂直于平台的上表面；所述的X向位移机构其固定部安装在平台上部右侧，在X向位移机构的移动部上安装有测头座，所述测头通过弹簧夹头安装在测头座上，且测头的轴线位于V型槽的对称平面上；所述的光栅尺其读数头安装在X向位移机构的移动部上，标尺光栅安装在X向位移机构的固定部一侧；所述的测头、X向位移机构的驱动器及光栅尺的读数头分别与控制器电性连接。

所述的X向位移机构为直线电机，所述直线电机的定轨为固定部，直线电机的动子为移动部，直线电机的驱动器为步进驱动器。

所述的定位座其V型槽的夹角为90度。

所述的测头为电触发式测距传感器。

所述的控制器为西门子2700PLC控制器。

本实用新型的有益效果是：测量工步简单易控，直线电机移动的精度及重复定位精度受光栅尺的反馈控制，精度可提升至微米级，测量精度高，结构简单易维护，适合于生产车间的大环境，可应用于高精度套环的在线大批量检测。

附图说明

图1为本实用新型的整体结构立体示意图。

图2为本实用新型的局部结构立体示意图。

图3为控制原理框图。

图4为测量原理图。