[实用新型]一种测试探针台

说明书

本实用新型公开了一种测试探针台，属于测试仪器技术领域，包括工作台和探针头，工作台上设置有承载筒，承载筒上开设有取料口，工作台上滑动设置有抵挡块，抵挡块滑动贯穿取料口，且抵挡块的侧壁面与取料口的内壁面相接触，抵挡块的一侧面上设置有承载板，探针头通过连接组件设置在承载筒上；通过设置工作台，利用工作台上设置的承载筒，能够将芯片堆叠在承载筒内，滑动承载板使其滑动至承载筒的内部，此时承载筒内的芯片会自然下落至承载板上，通过将承载板从取料口内滑出，能够将承载筒内的芯片移动至探针头的下方，便于探针头对芯片进行测试，避免了对多个芯片进行依次检测时需要逐一拿取摆正的过程，节省了更换芯片的时间，提高了工作效率。

技术领域

本实用新型属于测试仪器技术领域，具体涉及一种测试探针台。

背景技术

探针台主要应用于半导体行业、光电行业、集成电路以及封装的测试。广泛应用于复杂、高速器件的精密电气测量的研发，旨在确保质量及可靠性，并缩减研发时间和器件制造工艺的成本；现有的测试探针台在对芯片进行检测时，需要多次对芯片进行拿取摆正，浪费时间，影响工作效率，所以需要对其进行改进。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种测试探针台，以解决上述背景技术中提出的问题。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种测试探针台，包括工作台和探针头，所述工作台上设置有承载筒，所述承载筒上开设有取料口，所述工作台上滑动设置有抵挡块，所述抵挡块滑动贯穿取料口，且所述抵挡块的侧壁面与取料口的内壁面相接触，所述抵挡块的一侧面上设置有承载板，所述探针头通过连接组件设置在承载筒上，且所述探针头位于承载板的上方，所述承载板与工作台滑动连接，所述承载板可通过取料口滑动至承载筒的内部。

作为一种优选的实施方式，所述工作台上开设有滑槽，所述滑槽内滑动设置有滑块，所述滑块与承载板相连接，所述滑槽内还设置有弹簧，所述弹簧与滑块相连接。

作为一种优选的实施方式，所述滑槽内开设有容纳孔，所述容纳孔内滑动设置有限位杆，所述限位杆的一端延伸至滑槽内并与滑块相连接，所述限位杆位于弹簧的内部。

作为一种优选的实施方式，所述连接组件包括第一丝杆、活动块和移动板，所述承载筒上开设有条形槽，所述第一丝杆转动设置在条形槽内，所述第一丝杆的一端转动贯穿承载筒的一侧面，所述活动块滑动设置在条形槽内，且所述活动块与第一丝杆螺纹连接，所述移动板设置在活动块上，所述探针头设置在移动板上。

作为一种优选的实施方式，所述工作台上设置有固定块，所述固定块上通过调节组件设置有夹持块，所述夹持块与抵挡块相对齐。

作为一种优选的实施方式，所述调节组件包括滑杆和第二丝杆，所述滑杆设置在夹持块上，所述滑杆远离夹持块的一端滑动贯穿固定块，所述第二丝杆转动设置在夹持块上，所述第二丝杆远离夹持块的一端螺纹贯穿固定块。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：

该一种测试探针台通过设置工作台，利用工作台上设置的承载筒，能够将芯片堆叠在承载筒内，滑动承载板使其滑动至承载筒的内部，此时承载筒内的芯片会自然下落至承载板上，通过将承载板从取料口内滑出，能够将承载筒内的芯片移动至探针头的下方，便于探针头对芯片进行测试，避免了对多个芯片进行依次检测时需要逐一拿取摆正的过程，节省了更换芯片的时间，提高了工作效率；

该一种测试探针台通过在工作台上开设滑槽，利用滑槽内设置的滑块和弹簧，再利用弹簧与滑块的连接，滑动滑块后弹簧的弹性能够推动弹簧复位，承载板对芯片进行取料后，弹簧能够推动滑块带动承载板及其上的芯片移动至探针头的正下方，到达自动定位的效果。

附图说明

图1为本实用新型的整体结构示意图；

图2为本实用新型的剖视结构示意图；

图3为本实用新型图2中A处放大的结构示意图；