[实用新型]太阳辐射下的材料升温功率测量系统

权利要求书

1.太阳辐射下的材料升温功率测量系统，其特征在于，包括：装置盒、控制器、冷却器、温度探测器、载物平台、通讯接口及透光薄膜；

所述装置盒的顶部设置有镂空开口，装置盒内靠近顶部的镂空开口侧设置载物平台，所述载物平台用于放置待测测量的升温材料；

所述透光薄膜覆盖于所述镂空开口处，用于使装置盒内部形成密闭空间；

温度探测器设置为若干个，其中至少一个温度探测器分布于装置盒外部，用于检测环境温度；至少一个温度探测器分布于装置盒内部，用于检测盒内部形成密闭空间的温度；

所述冷却器设置于所述装置盒的侧壁，用于调节装置盒内部的温度；

所述温度探测器与冷却器通过线缆与通讯接口电性连接，所述通讯接口与控制器之间通过有线或者无线方式进行数据交换。

2.根据权利要求1所述的太阳辐射下的材料升温功率测量系统，其特征在于：

所述装置盒的周围设置挡风板。

3.根据权利要求1所述的太阳辐射下的材料升温功率测量系统，其特征在于：

所述装置盒的外部四周侧壁配置有一层金属铝膜，所述金属铝膜用于反射太阳光。

4.根据权利要求1所述的太阳辐射下的材料升温功率测量系统，其特征在于：所述太阳辐射下的材料升温功率测量系统使用隔热支架支撑或用隔热牵引绳悬挂悬置于空中。

5.根据权利要求1所述的太阳辐射下的材料升温功率测量系统，其特征在于：所述透光薄膜材质选用ZnSe、HfO₂、CaF₂或聚乙烯之一。

6.根据权利要求1所述的太阳辐射下的材料升温功率测量系统，其特征在于：

所述温度探测器设有7个，其中一个所述温度探测器位于装置盒外部，用于检测环境温度；其中两个所述温度探测器位于载物平台背部，用于监测载物平台的温度；其余四个所述温度探测器分别位于装置盒内部的四周侧壁，用于检测装置盒内部密闭空间的温度。

7.根据权利要求1至6中任一项所述的太阳辐射下的材料升温功率测量系统，其特征在于：还包括：陶瓷加热器，

所述陶瓷加热器配置于装置盒的内部，所述陶瓷加热器通过线缆与通讯接口连接。

8.根据权利要求1至6中任一项所述的太阳辐射下的材料升温功率测量系统，其特征在于：

所述透光薄膜外侧表面设置一层滤光膜，所述滤光膜对中红外波段的光阻止并对太阳波段透过。

9.根据权利要求8所述的太阳辐射下的材料升温功率测量系统，其特征在于：

所述滤光膜为透明导电薄膜。

10.根据权利要求9所述的太阳辐射下的材料升温功率测量系统，其特征在于：

透明导电薄膜的材质包括ITO导电玻璃或Low-E玻璃。