[实用新型]一种用于集成电路设备研发的耐压绝缘测试设备

权利要求书

1.一种用于集成电路设备研发的耐压绝缘测试设备，包括机体(1)，其特征在于：所述机体(1)的右侧固定连接有安装盒(2)，所述机体(1)的顶部转动连接有数量为两个且一端延伸至安装盒(2)上方的伸缩杆(3)，两个所述伸缩杆(3)的右侧固定连接有同一个且位于安装盒(2)上方的转动装置(4)，所述转动装置(4)的右侧滑动连接有位于安装盒(2)内侧的显示器(5)，所述显示器(5)的左侧固定连接有数量为两个且与安装盒(2)内部滑动连接的插块(6)，所述安装盒(2)的左侧设有一端延伸至安装盒(2)内部且与显示器(5)底部卡接的锁定装置(7)。

2.根据权利要求1所述的一种用于集成电路设备研发的耐压绝缘测试设备，其特征在于：所述安装盒(2)的右侧开设有与显示器(5)相适配的收纳槽，所述安装盒(2)的内部开设有与插块(6)相适配的插槽，所述插槽的顶部呈开口设置。

3.根据权利要求1所述的一种用于集成电路设备研发的耐压绝缘测试设备，其特征在于：所述转动装置(4)包括数量为两个的连接板(401)，左侧所述连接板(401)与两个伸缩杆(3)的右侧固定连接，左侧所述连接板(401)的右侧固定连接有数量为两个的第一连接环(402)，左侧所述连接板(401)的右侧固定连接有数量为两个的阻尼板(403)，所述阻尼板(403)为橡胶板且位于两个第一连接环(402)之间，右侧所述连接板(401)的左侧固定连接有数量为两个且位于两个第一连接环(402)之间的第二连接环(404)，两个所述第二连接环(404)分别与两个第一连接环(402)的相对一侧转动连接，两个所述第二连接环(404)的外侧分别与两个阻尼板(403)的右侧接触，两个所述第二连接环(404)的外侧均开设有防滑槽。

4.根据权利要求3所述的一种用于集成电路设备研发的耐压绝缘测试设备，其特征在于：所述显示器(5)与机体(1)电连接，所述显示器(5)的内部滑动连接有数量为两个且呈前后对称分布的滑块，两个所述滑块呈前后对称分布，两个所述滑块均与右侧连接板(401)的右侧固定连接。

5.根据权利要求1所述的一种用于集成电路设备研发的耐压绝缘测试设备，其特征在于：所述插块(6)的左侧呈倾斜设置，两个所述插块(6)位于两个伸缩杆(3)之间，两个所述插块(6)呈前后对称分布。

6.根据权利要求1所述的一种用于集成电路设备研发的耐压绝缘测试设备，其特征在于：所述锁定装置(7)包括滑杆(701)，所述滑杆(701)的外侧滑动连接有滑环(702)，所述滑环(702)的顶部固定连接有一端延伸至显示器(5)内部的锁杆(703)，所述锁杆(703)呈L型设置，所述锁杆(703)的顶部呈倾斜设置，所述显示器(5)的底部开设有与锁杆(703)相适配的卡槽，所述滑环(702)的右侧与安装盒(2)的内部之间固定连接有同一个且位于滑杆(701)外侧的弹簧(704)，所述滑环(702)的底部固定连接有与安装盒(2)内部滑动连接且一端延伸至安装盒(2)右侧的拉杆(705)，所述锁定装置(7)位于两个伸缩杆(3)之间。