[实用新型]一种探针生产检测用测试装置有效
| 申请号: | 202221805524.4 | 申请日: | 2022-07-14 |
| 公开(公告)号: | CN217820511U | 公开(公告)日: | 2022-11-15 |
| 发明(设计)人: | 张云 | 申请(专利权)人: | 深圳市益友兴电子有限公司 |
| 主分类号: | G01R1/04 | 分类号: | G01R1/04 |
| 代理公司: | 重庆卓茂专利代理事务所(普通合伙) 50262 | 代理人: | 许冲 |
| 地址: | 518000 广东省深圳市光*** | 国省代码: | 广东;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 探针 生产 检测 测试 装置 | ||
本实用新型属于探针测试技术领域,具体的说是一种探针生产检测用测试装置,包括安装底座和设置在安装底座上方的夹持机构,所述夹持机构包括转动组件和滑动组件;所述转动组件包括第一螺纹轴、支架、连接块和第一转轴,所述安装底座的上方固定连接有支架,所述支架的内部转动连接有第一螺纹轴,本实用新型通过设置夹板,在设备安装的连接滑轨的收缩运动时,安装的连接滑轨和第二转轴之间为转动连接进行工作,然后滑块在连接滑杆上进行滑动工作,将安装的夹板对设备进行一定的夹持工作,然后夹板内部均匀安装有第二弹簧可以对夹取的物品进行一定的缓冲保护的作用,且进行夹持工作避免工作人员进行手动拿取造成晃动。
技术领域
本实用新型涉及探针测试技术领域,具体是一种探针生产检测用测试装置。
背景技术
探针是用于测试的一种测试针,表面镀金,内部有平均寿命3万~10万次的高性能弹簧,现有技术中,对芯片测试时都是使用全自动机台进行测试,通过弹簧探针压紧测试芯片的测试点。
但是,现有的探针生产检测用测试装置在进行使用时,通过工作人员进行拿取检测之间会造成晃动导致设备进行测试时不能准确进行,且设备之间为固定连接,不能对型号不一的探针进行一定的测试,导致设备的工作效率降低,因此,针对上述问题提出一种探针生产检测用测试装置。
实用新型内容
为了弥补现有技术的不足,解决探针生产检测用测试装置在进行使用时,通过工作人员进行拿取检测之间会造成晃动导致设备进行测试时不能准确进行,且设备之间为固定连接,不能对型号不一的探针进行一定的测试,导致设备的工作效率降低的问题,本实用新型提出一种探针生产检测用测试装置。
本实用新型解决其技术问题所采用的技术方案是:本实用新型所述的一种探针生产检测用测试装置,包括安装底座和设置在安装底座上方的夹持机构,所述夹持机构包括转动组件和滑动组件;
所述转动组件包括第一螺纹轴、支架、连接块和第一转轴,所述安装底座的上方固定连接有支架,所述支架的内部转动连接有第一螺纹轴,所述第一螺纹轴的下端固定连接有连接块,所述连接块的内部转动连接有第一转轴;
所述滑动组件包括连接滑杆、连接滑轨、第二转轴、滑块、第二弹簧和夹板,所述支架的内部固定连接有连接滑杆,所述连接滑杆的内部滑动连接有滑块,所述滑块的外侧转动连接有第二转轴,所述第二转轴的外侧滑动连接有连接滑轨,所述滑块的下端固定连接有夹板,所述夹板的内部固定连接有第二弹簧。
优选的,所述安装底座的表面固定连接有限位轴,所述限位轴的顶端固定连接有第一弹簧,所述安装底座的侧面固定连接有转动机,所述转动机的内部转动连接有第三转轴,所述第三转轴的一端固定连接有第一齿轮,所述第一齿轮的左侧啮合连接有第二齿轮,所述第二齿轮的内部转动连接有第三螺纹轴,所述第三螺纹轴的内部转动连接有连接板,所述连接板的表面固定连接有升降台,所述升降台的表面固定连接有固定架,所述固定架的内部转动连接有第二螺纹轴,所述第二螺纹轴的内部转动连接有固定板。
优选的,所述连接块通过第一螺纹轴与支架构成升降结构,所述连接滑轨通过第一转轴与连接块构成转动结构。
优选的,所述连接滑轨和第二转轴之间为转动连接,所述滑块与连接滑杆之间为滑动连接,所述夹板内部均匀安装有第二弹簧。
优选的,所述连接板与升降台之间为固定连接,所述第一齿轮通过第三转轴与转动机之间为转动连接,所述升降台通过第二齿轮和第三螺纹轴构成升降结构。
优选的,所述限位轴沿安装底座的四侧均匀分布,所述限位轴的顶端设置一组第一弹簧。
优选的,所述固定板通过第二螺纹轴与固定架构成升降结构,所述固定板设置有三组。
本实用新型的有益之处在于:
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