[实用新型]一种可自动监控光器件多通道间背光串扰率的测试系统

说明书

本实用新型提供一种可自动监控光器件多通道间背光串扰率的测试系统，包括被测光器件、第一电开关、第二电开关、加电控温仪表和PC机；被测光器件为单出光口的光器件，其内部由多路发射芯片组成。所述的第一电开关的输入端连接加电控温仪表的加电端，多个输出通道分别连接被测光器件的多个加电引脚；所述的第二电开关的多个输入通道分别连接被测光器件的多个背光电流监测引脚，输出端连接加电控温仪表的电流监测引脚；被测光器件的温控引脚与加电控温仪表的温控引脚对应相连；第一电开关、第二电开关的控制端以及加电控温仪表的数据通讯端口均与PC机连接。本实用新型通过光开关的切换控制，实现光器件多通道间背光串扰率的测试。

技术领域

本实用新型涉及半导体激光器技术领域，特别涉及一种可自动监控光器件多通道间背光串扰率的测试系统。

背景技术

目前，在激光器领域，由于高速芯片的技术难度限制，高速发射器件内现在多为多路发射芯片集成在一个封装内，单出光口，器件内部由多路发射芯片组成。

这种光器件的多通道间背光串扰会影响器件的使用，在现有的串扰测试技术中为人工操作，人工测试操作复杂，因此需要设计一种装置来解决这个问题。

发明内容

为了解决背景技术提出的技术问题，本实用新型提供一种可自动监控光器件多通道间背光串扰率的测试系统，通过光开关的切换控制，实现光器件多通道间背光串扰率的测试。

为了达到上述目的，本实用新型采用以下技术方案实现：

一种可自动监控光器件多通道间背光串扰率的测试系统，所述的测试系统包括被测光器件、第一电开关、第二电开关、加电控温仪表和PC机；被测光器件为单出光口的光器件，其内部由多路发射芯片组成。

所述的第一电开关的输入端连接加电控温仪表的加电端，多个输出通道分别连接被测光器件的多个加电引脚；所述的第二电开关的多个输入通道分别连接被测光器件的多个背光电流监测引脚，输出端连接加电控温仪表的电流监测引脚；被测光器件的温控引脚与加电控温仪表的温控引脚对应相连；第一电开关、第二电开关的控制端以及加电控温仪表的数据通讯端口均与PC机连接。

还包括FPC连接器，被测光器件的引脚装夹在FPC连接器上，通过FPC连接器的引脚与第一电开关、第二电开关以及加电控温仪表对应相连。

所述的加电控温仪表采用PSS-EML系列仪表。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：

本实用新型设计的可自动监控光器件多通道间背光串扰率的测试系统，通过光开关的切换控制，可分别给光器件的各个通道进行加电，并分别监测每个通道的背光电流，各通道的背光电流之间的比值能够反映背光串扰率，从而实现光器件多通道间背光串扰率的测试。

附图说明

图1是本实用新型的一种可自动监控光器件多通道间背光串扰率的测试系统图；

图2是现有技术中的电开关内部原理图。

其中，1-PC机2-被测光器件3-FPC连接器4-第一电开关、5-第二电开关6-加电控温仪表。

具体实施方式

以下结合附图对本实用新型提供的具体实施方式进行详细说明。

如图1所示，一种可自动监控光器件多通道间背光串扰率的测试系统，所述的测试系统包括被测光器件2、第一电开关4、第二电开关5、加电控温仪表6和PC机1；被测光器件2为单出光口的光器件，其内部由多路发射芯片组成。