[实用新型]一种精密元器件测试盘的加工平台

权利要求书

1.一种精密元器件测试盘的加工平台，包括平台固定板(1)，其特征在于：所述平台固定板(1)的顶端设置有加工平台主体(2)，所述加工平台主体(2)的顶端设置有数个一形位置调节槽(3)，数个所述一形位置调节槽(3)呈环形均匀设置，所述平台固定板(1)的顶部设置有数个环形位置调节槽(4)，每个所述一形位置调节槽(3)与环形位置调节槽(4)的连接处均呈贯穿状设置，所述平台固定板(1)的中部设置有固定块限制槽(5)，所述固定块限制槽(5)的中部设置有数个元气件固定块(6)，每个所述元气件固定块(6)的顶端均设置有第一螺纹孔(7)，每个所述元气件固定块(6)与固定块限制槽(5)相配合，每个所述元气件固定块(6)的顶端均设置有螺栓紧固块(8)，所述螺栓紧固块(8)的底端与第一螺纹孔(7)相配合，所述螺栓紧固块(8)与一形位置调节槽(3)和环形位置调节槽(4)相配合，每个所螺栓紧固块(8)的顶端均设置有第二螺纹孔(9)。

2.根据权利要求1所述的一种精密元器件测试盘的加工平台，其特征在于：每个所述环形位置调节槽(4)的尺寸均不相同。

3.根据权利要求1所述的一种精密元器件测试盘的加工平台，其特征在于：所述平台固定板(1)、加工平台主体(2)、一形位置调节槽(3)、环形位置调节槽(4)、固定块限制槽(5)、元气件固定块(6)与螺栓紧固块(8)的棱边均呈圆角状设置。

4.根据权利要求1所述的一种精密元器件测试盘的加工平台，其特征在于：每个所述元气件固定块(6)与固定块限制槽(5)之间的配合方式呈过渡配合。

5.根据权利要求1所述的一种精密元器件测试盘的加工平台，其特征在于：所述螺栓紧固块(8)的底端与第一螺纹孔(7)之间的配合方式呈间隙配合。

6.根据权利要求1所述的一种精密元器件测试盘的加工平台，其特征在于：所述螺栓紧固块(8)与一形位置调节槽(3)和环形位置调节槽(4)之间的配合方式呈间隙配合。