[实用新型]一种在eMMC压力测试中精准注入电压波动的系统

说明书

本实用新型公开一种在eMMC压力测试中精准注入电压波动的系统，包括主控芯片、第一PMIC、第二PMIC和eMMC芯片，所述主控芯片电连接第一PMIC、第二PMIC和eMMC芯片，所述第一PMIC和第二PMIC电连接eMMC芯片以输出电流给eMMC芯片。其通过设置第一PMIC和第二PMIC，可以实现制造精准的电压波动，不仅能够模拟现实中电压掉电的情况，也能模拟出现电压波动对eMMC芯片工作的影响。

技术领域

本实用新型涉及芯片测试技术领域，具体涉及一种在eMMC压力测试中精准注入电压波动的系统。

背景技术

现有的eMMC芯片具有两路供电，一路是3.3V的VCC，其为闪存(Nand Flash)进行供电，另一路是1.8V的VCCQ，其为控制器供电。eMMC作为一个被动的半导体芯片，理论上正常和稳定的供电是其正常工作的前提。但是在实际使用过程中，由于电源稳定性和环境的影响，供电电压的异常波动和跌落在所难免。这就要求eMMC在供电异常的场景下依然能够保证用户数据的安全和固件(Firmware)正常运行。这种场景对固件(firmware)的错误处理能力和健壮性有较大的挑战。

针对这种情况，目前已经有的成熟的测试方法是通过引入电压控制电路 (GPIO信号控制)，在eMMC场景测试过程中，精准实现电压的跌落和恢复。例如，可以实现VCC(为Nand供电)从3.3V跌落至0V,VCCQ从1.8V跌落至0V，这样就相当于插入了一次异常掉电。

但是，现有的做法，其只能实现如图1所示的电压的通断，对于如图2所示的电压波动，例如VCC在3.3V-0V之间中间值波动，不能支持。但是电压波动的情况在eMMC运行过程中，特别是对于读写过程，涉及到NAND Flash的操作，VCC的波动会造成很多数据丢失隐患，因此对这种情况的测试具有相当的必要性。

实用新型内容

本实用新型所要解决的技术问题是：

为了解决上述技术问题，本实用新型采用的一种技术方案为：一种在eMMC 压力测试中精准注入电压波动的系统，包括主控芯片、第一PMIC、第二PMIC 和eMMC芯片，所述主控芯片电连接第一PMIC、第二PMIC和eMMC芯片，所述第一PMIC和第二PMIC电连接eMMC芯片以输出电流给eMMC芯片。

进一步地，所述主控芯片通过IIC接口与所述第一PMIC和第二PMIC电连接。

进一步地，还包括电源模块，所述电源模块电连接主控芯片、第一PMIC 和第二PMIC。

进一步地，还包括存储芯片，所述存储芯片电连接主控芯片。

进一步地，所述第一PMIC的型号具体是TPS628610。

进一步地，所述第二PMIC的型号具体是TPS63811。

进一步地，所述主控芯片和所述eMMC分别位于两块PCB板上。

进一步地，所述eMMC通过插入焊接在PCB板上的插座的方式固定在PCB 板上。

本实用新型的有益效果在于：通过设置第一PMIC和第二PMIC，可以实现制造精准的电压波动，不仅能够模拟现实中电压掉电的情况，也能模拟出现电压波动对eMMC芯片工作的影响。

附图说明

图1为现有技术能够制造的电压通断的波形图；

图2为现有技术无法制造的电压波动的波形图；

图3为本实用新型的一种在eMMC压力测试中精准注入电压波动的系统的结构示意图；

图4为本实用新型的一种在eMMC压力测试中精准注入电压波动的系统的工作流程图；

图5为本实用新型实施例涉及的VCCQ电压波动的波形图；