[实用新型]一体式引出极离子源结构及质谱仪

说明书

本实用新型提供一种一体式引出极离子源结构及质谱仪，一体式引出极离子源结构包括引出极；透镜支架，设置于引出极引出离子的延伸方向上；隔离套，连接于引出极与透镜支架之间，隔离套的第一端与透镜支架配合连接，隔离套的第二端与引出极配合连接。本实用新型降低了加工和装配难度，可以借助保证隔离套的精度以保证整体装配精度；通过引出极、隔离套及透镜支架之间的相互配合，保证了引出极与离子轴的同轴度，从而保证了离子有效传输，提高了仪器的分辨率和信号强度，减少了离子源污染。

技术领域

本实用新型属于医疗器械技术领域，特别是涉及一种一体式引出极离子源结构及质谱仪。

背景技术

质谱仪是一种用于分析物质样品中各种化学成分，含量和分子结构的科学仪器。飞行时间质谱仪内的离子源是将样品离子化的结构，通常情况下样品被离子化后经过电场或者磁场加速进入飞行时间质量分析器进行分离。通常情况下加速电场的场强越高离子初始速度和初始位移的影响越小，所以在飞行时间质谱仪里加速电场通常可达20KV。在5-10mm左右的距离上电势差达到20KV以上，这就对离子源的引出极和透镜内支架的装配平行度有极高的要求。

现有的离子源结构中，通过设置在引出极与透镜内支架之间的多个引出极支撑柱来支撑，若各个引出极支撑柱的高度偏差不一致，则会引起装配后的形位公差难于达到要求；并且，现有的离子源结构缺少对引出极与离子轴的径向定位，无法保证引出极中心与离子轴的同轴要求。

实用新型内容

鉴于以上所述现有技术的缺点，本实用新型的目的在于提供一种一体式引出极离子源结构及质谱仪，用于解决现有技术中由于引出极支撑柱高度偏差引起的组件形位公差难以保证的问题。

为实现上述目的及其他相关目的，本实用新型提供一种一体式引出极离子源结构，包括：

引出极；

透镜支架，设置于所述引出极的离子传输方向上；以及

隔离套，连接于所述引出极与透镜支架之间，所述隔离套的第一端与透镜支架配合连接，所述隔离套的第二端与引出极配合连接。

可选地，所述透镜支架与隔离套同轴连接，所述引出极与隔离套同轴连接。

可选地，所述隔离套内设置有支撑部，所述支撑部位于隔离套的中部。

可选地，所述隔离套的第一端通过第一安装结构与透镜支架配合连接，所述隔离套的第二端通过第二安装结构与引出极配合连接。

可选地，所述第一安装结构包括第一限位部和支架限位部，所述第一限位部设置于所述隔离套的第一端，所述支架限位部设置于所述透镜支架的底端，所述第一限位部与支架限位部配合。

可选地，所述第二安装结构包括第二限位部和引出极限位部，所述第二限位部设置于所述隔离套的第二端，所述引出极限位部设置于所述引出极的顶端，所述第二限位部与引出极限位部配合。

可选地，还包括引出极绝缘柱，所述引出极通过引出极绝缘柱与透镜支架固定连接。

可选地，还包括电透镜通柱，所述电透镜通柱设置于透镜支架上，并与所述透镜支架同轴，所述电透镜通柱内沿轴向设置有贯通的离子通道。

可选地，还包括电透镜上座、电透镜下座、电透镜及电透镜引出筒，所述电透镜同轴地设置于电透镜上座和电透镜下座之间，所述电透镜下座与电透镜通柱同轴连接，所述电透镜上座与电透镜引出筒同轴连接。

本实用新型还提供一种质谱仪，包括真空腔室模块、离子源模块、质量分析模块，其中：

真空腔室模块，用于进样和取样；

离子源模块，采用如上所述的一体式引出极离子源结构，用于将样品电离出离子束；

质量分析模块，用于接收并分析所述离子束。