[实用新型]一种材料检验治具

说明书

本实用新型提出了一种材料检验治具，包括机架和产品平台，所述机架设置有容许所述产品平台插入的开口，所述机架与所述产品平台可拆卸的连接；所述产品平台可相对于所述机架滑动，所述产品平台用于承载产品；所述产品平台插入所述机架时，所述产品平台与所述机架装配为一体。本实用新型提出的一种材料检验治具，对不同规格的产品进行材料检验时，只需更换产品平台即可，无需更换机架，降低了材料检验治具的成本，且提高了适用性。

技术领域

本实用新型涉及外观检验治具技术领域，特别涉及一种材料检验治具。

背景技术

芯片的封装涉及许多材料，在使用之前需要对封装芯片进行外观检验以确保封装产品的品质，由于封装材料要求的品质比较严格，所以需要借助显微镜进行检验。现有的体位式显微镜的载台过小且无法移动，因此，在检验尺寸较大的产品时，需要用到相应的材料检验治具。

实用新型内容

本实用新型申请人发现：现有的材料检验治具多为一体成型，在更换产品进行检验时，需要使用不同的材料检验治具，导致材料检验治具的成本较高，且适用性较差。鉴于上述问题，有必要提出一种材料检验治具以解决或部分解决上述问题，本实用新型提出的技术方案如下：

本实用新型提出了一种材料检验治具，包括机架和产品平台，其中：

所述机架设置有容许所述产品平台插入的开口，所述机架与所述产品平台可拆卸的连接；

所述产品平台可相对于所述机架滑动，所述产品平台用于承载产品；

所述产品平台插入所述机架时，所述产品平台与所述机架装配为一体。

进一步的，所述机架设置有凹槽；所述产品平台的两侧设置有与所述凹槽匹配的凸起，以使得所述产品平台可沿所述凹槽滑动。

进一步的，所述机架包括位于同一平面的第一支架、第二支架和第三支架，所述第二支架分别与第一支架和第三支架垂直且连接，所述开口为所述第二支架与所述第一支架和所述第三支架形成的缺口，所述凹槽设置于第一支架和第三支架。

进一步的，所述材料检验治具还包括连接件，所述连接件用于连接固定所述机架和所述产品平台。

进一步的，所述连接件包括固定座、锁扣和压板，所述固定座固定于所述产品平台上，所述固定座的一端设置有固定部，所述固定部的形状为向内弯曲的弧形，所述压板固定于所述第一支架或第三支架上，所述锁扣与所述压板可旋转的连接；所述连接件有两种状态：

所述锁扣位于所述固定部之外，所述产品平台可沿所述凹槽滑动；

所述锁扣位于所述固定部内部，在所述压板的力作用下，所述锁扣抵靠所述固定部，以将所述锁扣与所述固定座连接固定，所述机架和所述产品平台固定连接。

进一步的，所述产品平台设置有产品放置部，所述产品放置部上设置有产品放置槽，所述产品放置槽的截面形状为圆形、八边形或方形。

进一步的，所述产品放置槽的四周设置有设置有沿边缘向外延伸的缺口，以便于取放产品。

进一步的，所述机架下方连接有滑动部，以使得所述机架可在水平面滑动。

进一步的，所述滑动部包括多个滚珠，所述第一支架、所述第二支架和所述第三支架下方分别连接有至少一个滚珠。

进一步的，所述材料检验治具还包括至少一个把手，所述把手设置于所述第一支架上和\或所述把手设置于所述第二支架上。

基于上述技术方案，本实用新型较现有技术而言的有益效果为：