[实用新型]一种声波及顶角核查装置

权利要求书

1.一种声波及顶角核查装置，其特征在于，包括校验台座、声波校验筒、声波探管组件和测斜仪刻度组件，其中：

所述声波校验筒采用无磁材料制成，可拆卸安装在所述校验台座上；

所述声波探管组件和所述测斜仪刻度组件采用无磁材料制成，且以择一方式可拆卸安装在所述声波校验筒上。

2.根据权利要求1所述的声波及顶角核查装置，其特征在于，所述校验台座包括具有容纳腔的基座、支撑在所述基座周侧的可伸缩支腿。

3.根据权利要求2所述的声波及顶角核查装置，其特征在于，所述基座为中空圆柱体阶梯结构，包括依次设置的第一柱部和第二柱部，所述第一柱部直径大于所述第二柱部直径，所述第二柱部底部设置有圆盘形基脚，所述支腿包括通过螺纹连接的上腿和下腿、以及设置在所述下腿底部的脚垫，所述上腿铰接在所述第一柱部上，能相对于所述第二柱部靠近或远离；所述第一柱部上设置有能供所述上腿卡入的避让槽；所述声波校验筒密封式连接在所述第一柱部顶部，且所述声波校验筒内腔与所述基座容纳腔连通。

4.根据权利要求1所述的声波及顶角核查装置，其特征在于，所述声波校验筒为中空筒体结构，底部与所述校验台座密封式连接，且所述声波校验筒直径与所述校验台座顶部规格相等，所述声波校验筒内腔直径与所述校验台座的容纳腔直径相等；所述声波校验筒数量为两个，分别为第一校验筒和第二校验筒，所述第一校验筒采用高声阻抗材料制成，所述第二校验筒采用低声阻抗材料制成。

5.根据权利要求4所述的声波及顶角核查装置，其特征在于，所述第一校验筒采用PVC材料制成，所述第二校验筒采用铝材料制成。

6.根据权利要求1所述的声波及顶角核查装置，其特征在于，所述声波探管组件包括声波探管、依次从下到上套设在所述声波探管外侧的探管居中组件和扶正盖组件，所述声波探管采用铜或铝材料制成，所述探管居中组件和所述扶正盖组件均采用尼龙材料制成；所述探管居中组件由两个半圆居中环对接而成，所述探管居中组件外径等于所述声波校验筒内径，所述探管居中组件与所述声波探管之间为间隙配合；所述扶正盖组件由两个半圆扶正环磁吸在一起而成，所述扶正盖组件具有阶梯结构，底部直径等于所述声波校验筒内径，顶部直径大于所述声波校验筒内径，所述扶正盖组件与所述声波探管之间为紧配合。

7.根据权利要求1所述的声波及顶角核查装置，其特征在于，所述测斜仪刻度组件包括第一自由度调节机构、第二自由度调节机构、探管夹持机构、测斜探管、第三自由度调节机构，其中：

所述第一自由度调节机构安装在所述声波校验筒上，能进行水平方向转动以进行第一自由度调节；

所述第二自由度调节机构安装在所述第一自由度调节机构顶部，能进行竖直方向转动以进行第二自由度调节；

所述测斜探管通过所述探管夹持机构安装在所述第二自由度调节机构末端；

所述第三自由度调节机构安装在所述第二自由度调节机构上，通过所述第三自由度调节机构能判断所述声波及顶角核查装置的水平度，并进而调节所述校验台座。

8.根据权利要求7所述的声波及顶角核查装置，其特征在于，所述第一自由度调节机构包括第一壳体、方位刻度盘、竖直轴，所述方位刻度盘插设在所述声波校验筒顶部，所述竖直轴下端通过轴承转动设置在所述方位刻度盘内，顶部固定在所述第一壳体内。

9.根据权利要求7所述的声波及顶角核查装置，其特征在于，所述第二自由度调节机构包括第二壳体、水平轴、转动手轮、顶角刻度盘和擎动手柄，其中：

所述第二壳体安装在所述第一自由度调节机构顶部；

所述水平轴穿设在所述第二壳体内，且两端均凸出，分别与所述探管夹持机构和所述转动手轮连接；

所述顶角刻度盘固定在所述第二壳体一端，且位于所述转动手轮里侧；

所述第二壳体顶部开设有调节孔，所述擎动手柄安装在所述调节孔内，且末端与所述水平轴可接触连接。

10.根据权利要求7所述的声波及顶角核查装置，其特征在于，所述第三自由度调节机构包括设置在所述第二自由度调节机构顶部的气泡水平仪。