[实用新型]通电测试装置

说明书

本申请提供一种通电测试装置，其包括第一模座、第二模座、探针以及压头，所述第一模座包括金属支撑件，所述第一模座承载有产品，所述金属支撑件承载所述产品的针体；所述第二模座与所述第一模座相对设置；所述探针连接至所述第二模座，并与所述针体对应设置；所述压头连接至所述第二模座，并与所述产品相对设置；其中，所述第一模座和/或所述第二模座被驱动时，所述压头抵接并驱动所述产品贴合至所述第一模座，直至所述探针与所述针体抵接，既能够提高测试效率，同时测试的过程中产品的锁定位置准确不变，因而可以保证探针与针体抵接时的准确性。

技术领域

本申请涉及治具技术领域，具体涉及一种通电测试装置。

背景技术

随着电子技术的飞速发展，各种家用及电子设备层出不穷，为保证使用性能，需要对电子设备进行通电测试。现有技术中对待测产品进行通电测试时，需要预先将待测产品固定在模座上，然后将模座以及位于其上的待测产品传输至测试工位，利用测试针与待测产品上的充电针进行适配，从而进行通电测试。但是，上述测试方式需要压合工序和测试工序，利用压合设备进行待测产品的预固定后，再利用测试设备进行通电测试，降低了通电测试的效率。

实用新型内容

本申请提供一种通电测试装置，以解决压合工序和测试工序组合导致通电测试效率低的技术问题。

本申请提供一种通电测试装置，其包括第一模座、第二模座、探针以及压头，所述第一模座包括金属支撑件，所述第一模座用于承载产品，所述金属支撑件用于承载所述产品的针体；所述第二模座与所述第一模座相对设置；所述探针连接至所述第二模座，并与所述针体对应设置；所述压头连接至所述第二模座，并与所述产品相对设置；其中，所述第一模座和/或所述第二模座被驱动时，所述压头抵接并驱动所述产品贴合至所述第一模座，直至所述探针与所述针体抵接。

可选的，所述压头与所述第二模座通过弹性伸缩结构连接。

可选的，所述压头包括第一压合部和第二压合部，所述第一压合部连接至所述第二模座，且所述第一压合部包括一容纳腔；所述第二压合部通过所述弹性伸缩结构连接至所述第二模座；其中，所述弹性伸缩结构位于所述容纳腔内，所述第二压合部伸出所述容纳腔，并驱动所述产品贴合至所述第一模座。

可选的，所述压头还包括容纳槽，所述容纳槽贯穿开设于所述压头的上下端面；其中，所述探针的一端连接至所述第二模座，其另一端从所述容纳槽穿过。

可选的，通电测试装置还包括至少一个第一限位柱和至少一个第一限位孔，第一限位柱连接至所述第二模座；第一限位孔内凹式开设于所述第一模座的端面；其中，每一所述第一限位柱能够对应插设至一所述第一限位孔内。

可选的，通电测试装置还包括至少一个第二限位柱和至少一个第二限位孔，第二限位柱连接至所述第一模座；第二限位孔内凹式开设于所述第二模座的端面；其中，每一所述第二限位柱能够对应插设至一所述第二限位孔内。

可选的，每一所述第一限位柱的端部与对应的所述第一限位孔的底壁之间的距离为L1，所述探针与所述针体相对端之间的距离为L2，其中L1＝L2；每一所述第二限位柱的端部与对应的所述第二限位孔的底壁之间的距离为L3，其中L3＝L2。

可选的，所述第一模座开设有让位槽，且所述产品的部分插设至所述让位槽内。

可选的，通电测试装置还包括工作台以及机架，工作台包括一台面；所述第一模座设置于所述台面上；机架连接至所述台面；所述机架上设有驱动件，所述第二模座通过所述驱动件连接至所述机架；其中，所述第二模座被所述驱动件推动，并适配于所述第一模座。

可选的，所述机架还包括连接板，所述连接板的一表面连接至所述第二模座，其另一表面连接至所述驱动件；其中，所述连接板开设有第一横槽，使得所述第二模座能够沿所述第一横槽的方向被调整；所述第一模座开设有第二横槽，使得所述第一模座能够沿所述第二横槽的方向被调整；所述第一横槽的延伸方向与所述第二横槽的延伸方向垂直。