[实用新型]光学检测装置

说明书

本实用新型公开一种应用于检测待测样品的光学检测装置，包括光学模块、控制模块以及运算模块。光学模块包括相机、指示灯治具以及待测样品治具，相机接收指示灯治具发出的指示光，且相机检测待测样品发出的待测光之后产生图像讯号。控制模块用以控制相机以及指示灯治具。运算模块接收图像讯号，且产生亮度分布结果。

技术领域

本实用新型有关一种光学检测装置，尤指可依据对应待测样品的分色的亮度分布结果，判断待测样品是否存在异常的光学检测装置。

背景技术

近年来，随着自动化生产的蓬勃发展之下，生产业界创造出所谓的自动光学检测(automated optical inspection,AOI)为一种高速高精度光学影像检测系统，其运用机器视觉作为检测标准技术，作为改良传统上以人力使用光学仪器进行检测的缺点。一般来说，在待测物件(例如：半导体芯片)制作完成后，必须经过标准的检测流程，利用自动光学检测装置检测待测物件的外观，筛选排除外观具有明显瑕疵的物件，继而进行物件之光学功能测试。更明确地说，自动光学检测系统由光学检测机台的运作来进行，在检测过程中，是以光线照射待测物件或是直接撷取来自待测物所发出的光，再通过影像传感器单元撷取待测物件的图像来进行瑕疵的判断。

在现有技术中，自动光学检测大多采用面扫描摄影装置来撷取待测物件的影像。面扫描摄影装置主要包含一镜头及一摄影机，镜头的视野范围将待测物件纳入而进行拍摄。然而，面扫描摄影装置的影像分辨率受限于镜头和摄影机的分辨率，因此当视野范围越大，影像分辨率越差，且其还具有取像速度慢的缺点，因此难以满足产业需求。

为此，如何设计出一种光学检测装置，特别是解决现有技术的上述技术问题，乃为本专利发明人所研究的重要课题。

实用新型内容

本专利的目的在于提供一种光学检测装置，可以解决现有技术影像分辨率差以及取像速度慢的技术问题，达到提高检测准确率以及提高检测效率的目的。

为了达到上述目的，本实用新型提供一种光学检测装置应用于检测待测样品，且光学检测装置包括光学模块、控制模块以及运算模块。其中，所述光学模块包括相机、指示灯治具以及待测样品治具。待测样品治具用以配置待测样品；相机用以接收指示灯治具发出的指示光，且相机检测待测样品发出的待测光之后，产生图像讯号。所述控制模块耦接光学模块，用以控制相机以及指示灯治具。所述运算模块耦接控制模块，运算模块接收图像讯号，且产生亮度分布结果。其中，运算模块依据指示光以及亮度分布结果，判断待测样品是否存在异常。

优选地，所述的光学检测装置中，光学模块更包括支架，支架配置于指示灯治具以及待测样品治具之外，且支架将相机固设于指示灯治具以及待测样品治具之上。

优选地，所述的光学检测装置中，光学模块更包括镜头，镜头配置于相机之下，且用以调整对应待测样品的光圈和/或焦距。

优选地，所述的光学检测装置中，光学模块更包括外壳以及遮光罩；其中，外壳罩设于相机、指示灯治具以及待测样品治具之外，且遮光罩配置于外壳之上。

优选地，所述的光学检测装置中，该指示灯治具包括红指示灯、绿指示灯以及蓝指示灯中的至少一种。

优选地，所述的光学检测装置中，待测光包括红待测光、绿待测光以及蓝待测光中的至少一种。

优选地，所述的光学检测装置中，控制模块包括单晶片控制器、发光二极管芯片控制器以及踏板；其中，踏板耦接单晶片控制器，单晶片控制器耦接发光二极管芯片控制器，发光二极管芯片控制器耦接指示灯治具。

优选地，所述的光学检测装置中，运算模块包括计算机主机，计算机主机耦接控制模块，且接收图像讯号，以产生亮度分布结果。

优选地，所述的光学检测装置中，运算模块更包括键盘以及鼠标；其中，键盘以及鼠标分别地耦接至计算机主机。