[实用新型]一种多通道继电器触点抖动测试系统

说明书

本实用新型继电器检测技术领域，尤其涉及一种多通道继电器触点抖动测试系统。包括主控单元、计数单元、底板、交换机和测试接口；主控单元和计数单元集成于底板上，并通过底板连接交换机；计数单元中包含有若干个计数模块；底板上通过A/D电源转换模块连接有电源接口；主控单元上连接有BNC接口和线圈电源单元；测试接口与计数单元连接；线圈电源单元基于主控单元的控制，输出到测试接口；交换机上连接有LAN接口和/或显控单元。本技术方案通过增加BNC接口拓展了振动传感器接口，通过振动传感器配合主控单元，整体实现了振动频率监测功能，使得测试系统的整体监测功能更加完善，有利于产品故障时的分析。

技术领域

本实用新型继电器检测技术领域，尤其涉及一种多通道继电器触点抖动测试系统。

背景技术

具有机械开关触点的低压电器，包括继电器、按钮开关、温度开关、刀开关等，在工业自动控制、家用电器、电力系统及自动化装置等领域，应用非常广泛。为确保低压电器正常工作，生产厂家必须对低压电器的性能进行严格检测，尤其是对低压电器的机械开关触点性能进行严格检测。

根据国家及企业规定的标准，测试检验低压电器十分繁琐、困难，国内多采用传统的模拟试验手段对其性能进行检测，这种方法不但效率低、劳动强度大、测量速度慢、误差大。基于此，现有技术中有采用继电器触点抖动测试仪进行相关测试实验，现有的用继电器触点抖动测试仪不具备振动台频率监测功能，所以出现触点抖动异常时的振动频率无法捕捉，无法对造成触点抖动异常的故障原因进行有效的分析。另外，现有的测试技术多采用ADC进行模拟采样，由FPGA实现硬件逻辑控制以及硬件缓冲，最终通过软件算法进行数据判读，这种设计方案的缺点有以下几个方面：

1）完整采集到1us脉冲信号，需要ADC采样率至少在10MSa/s以上，100通道ADC采样数据会非常庞大，设备通信负荷高；

2）高速的ADC采样如果集成度太高，整体的功耗（发热量）也会非常的巨大，工作的稳定性将会随着时间推移逐渐下降；

3）FPGA逻辑在实现高速ADC采样时占用的逻辑门资源比较多，相同单位下可实现ADC采样的通道较少，必然会导致多通测试系统集成度不高，系统比较庞大。

发明内容

本实用新型针对现有技术存在的不足，提供一种多通道继电器触点抖动测试系统，具体方案如下：

一种多通道继电器触点抖动测试系统，包括主控单元、计数单元、底板、交换机和测试接口；所述主控单元和计数单元集成于底板上，并通过底板连接交换机；所述计数单元中包含有若干个计数模块；所述底板上通过A/D电源转换模块连接有电源接口；所述主控单元上连接有BNC接口和线圈电源单元；所述测试接口与计数单元连接；线圈电源单元基于主控单元的控制，输出到测试接口；所述交换机上连接有LAN接口和/或显控单元。

优选的，所述主控单元采用基于ARM架构的嵌入式MCU作为核心部件。

优选的，所述计数单元中包含有10个计数模块；

优选的，所述计数器模块采用MCU+FPGA的硬件架构，包括有MCU模块、FPGA模块、比较器、放大器以及与所述测试接口电性连接的负载模块；测试接口通过通过差分运放模块接入比较器的第一输入端；放大器的输出端接入比较器的第二输入端，比较器的输出端通过FPGA模块连接MCU模块；MCU模块通过D/A转换模块接入放大器的输入端，并通过I/O拓展接口连接负载模块。

优选的，所述负载模块包括依次电性连接的程控开关Ⅱ、电阻负载、板载触点电源和程控开关Ⅲ，程控开关Ⅱ的输入端和程控开关Ⅲ的输出端分别与线圈触点电性连接。

优选的，所述显控单元包括串口屏和显控板，串口屏通过显控板连接所述交换机。

优选的，所述显控板采用基于ARM架构的嵌入式MCU作为核心部件。