[实用新型]匹配电路可调装置和测试系统

说明书

本申请涉及一种匹配电路可调装置和测试系统，所述匹配电路可调装置中通过设置与多个不同频段一一对应的多个匹配电路以及选择电路，其中，每个匹配电路在对应的频段上处于失配状态，当对待测试的目标设备的任意待测试频段进行测试时，通过选择电路可以控制上述待测试频段对应的目标匹配电路与第二射频端口连接以形成测试通路，以便于信号测试设备对上述目标设备中的功率放大器在上述待测试频段上的工作性能进行测试。可见，相对于传统测试过程，通过本申请实施例提供的匹配电路可调装置进行测试时的测试操作更加简单，因此，测试效率较高。

技术领域

本申请涉及通信技术领域，特别是涉及一种匹配电路可调装置和测试系统。

背景技术

随着射频前端模块技术的发展，功率放大器(power amplifier，PA)、滤波器和RF开关从分立设计，到当前集成PA、滤波器和RF开关的集成双工器的功放模块(PAMID)，对于设备研发厂商来说，无论是单独的PA还是PAMID，对于PA的输入和放大能力都需要有一定的限制，使得器件在承受能力允许的范围内进行功率放大，才能保证器件的使用安全。

通常情况下，PA或者PAMID支持的各频段带宽对应的承受能力不同，需要测试各频段带宽对应的承受能力。传统测试过程中，在测试每个频段带宽对应的承受能力前，需要将负载位移调节器连接到网络分析仪上通过调节负载位移器的两个调节按钮使得负载位移调节器的匹配网络达到一定失配状态，然后通过将待测试样机连接到调节好的负载位移调节器，负载位移调节器连接到通信测试仪开始测试。

传统测试过程中，每测试待测试样机的一个频段带宽对应的承受能力前，都需要将负载位移调节器连接到网络分析仪上进行调节，然后将调节好的负载位移调节器分别与待测试样机和通信测试仪连接以便进行测试，导致传统技术中的测试操作比较繁琐，测试效率较低。

实用新型内容

基于此，有必要针对上述技术问题，提供一种测试操作简单且测试效率较高的匹配电路可调装置和测试系统。

第一方面，本申请提供了一种匹配电路可调装置，所述装置包括：第一射频端口、第二射频端口、与多个不同频段一一对应的多个匹配电路以及选择电路；所述匹配电路在对应的频段上处于失配状态，所述第一射频端口与各所述匹配电路的第一端均连接，所述第一射频端口和所述第二射频端口中的一个用于与信号测试设备连接，另一个用于与待测试的目标设备连接；

所述选择电路，用于控制待测试频段对应的目标匹配电路与所述第二射频端口连接，以形成测试通路，所述测试通路用于供所述信号测试设备对所述目标设备中的功率放大器在所述待测试频段上的工作性能进行测试。

第二方面，本申请还提供了一种测试系统，所述系统包括：如所述第一方面所述的匹配电路可调装置、信号测试设备和待测试的目标设备；其中，所述匹配电路可调装置的第一射频端口和第二射频端口中的一个用于与所述信号测试设备连接，另一个用于与所述目标设备连接；

其中，所述匹配电路可调装置的选择电路，用于控制待测试频段对应的目标匹配电路与所述第二射频端口连接，以形成测试通路；

所述信号测试设备用于通过所述测试通路对所述目标设备中的功率放大器在所述待测试频段上的工作性能进行测试。

上述匹配电路可调装置和测试系统，匹配电路可调装置中通过设置与多个不同频段一一对应的多个匹配电路以及选择电路，其中，每个匹配电路在对应的频段上处于失配状态，当对待测试的目标设备的任意待测试频段进行测试时，通过选择电路可以控制上述待测试频段对应的目标匹配电路与第二射频端口连接以形成测试通路，以便于信号测试设备对上述目标设备中的功率放大器在上述待测试频段上的工作性能进行测试。可见，相对于传统测试过程，通过本申请实施例提供的匹配电路可调装置进行测试时的测试操作更加简单，因此，测试效率较高。

附图说明

图1为相关技术中待测试样机中的收发器到PA输出端口的通路简图示意图；